Дырочные состояния в кубических полупроводниках и в низкоразмерных полупроводниковых гетероструктурах
- Автор:
Полупанов, Александр Федорович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
151 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование границы раздела и приповерхностных слоев полупроводника в системах электролит-полупроводник с помощью емкостных методов | Рудинский, Михаил Эдуардович | 2013 |
| Термоэлектрические свойства гетерофазных структур | Пшенай-Северин, Дмитрий Александрович | 2003 |
| Комплексное исследование полупроводниковых соединений Cu2-xS с использованием метода ЯКР 63,65Cu | Сафонов, Александр Николаевич | 2007 |