Диагностика квантовых ям в системе (In, Ga)As/GaAs методом стационарной емкостной спектроскопии
- Автор:
Цвелев, Егор Олегович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
151 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Динамика электронных состояний в слоистых системах на основе эпитаксиальных феррит-гранатовых пленок | Кожухарь, Анатолий Юрьевич | 2005 |
| Получение и исследование гетероструктур и приборов на основе твердых растворов InGaAsP | Ахмедов, Давронали | 1982 |
| Электронные и сорбционные процессы в сенсорах на основе гетероструктуры кремний / металлоксидный полупроводник | Тутов, Евгений Евгеньевич | 2008 |