Теория зеркального отражения мессбауэровского излучения от поверхности при наличии сверхтонких взаимодействий

• Автор: Росете Альварес, Хосе Карлос
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 110 c. : ил

Глава I. ОНЦАЯ ХАРАКТЕРИСТИКА МЕТОДА ПОЛНОГО ОТРАЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

§ I. Граничные условия. Формулы Френеля

§ 2. Особенности зеркального отражения

рентгеновского излучения

§ 3. Рекурентные соотношения Иаррата для

вычисления коэффициента отражения от

МНОГОСЛОЙНОЙ среды

§ 4. Исследования изменений приповерхностной

плотности и параметров многослойных покрытий методом полного отражения рентгеновского излучения
§ 5. Исследования ближней и дальней тонкой структуры рентгеновских спектров отражения

§ 6. Исследования дифракции в условиях

полного отражения
§ 7. Особенности динамической дифракции в
условиях полного отражения
Глава II. МАТРИЧНОЕ РЕШЕНИЕ ЗАДАЧИ ЗЕРКАЛЬНОГО ОТРАЖЕНИЯ ОТ СРЕДЫ С Ш СЛОЙНЫМ ИЗМЕНЕНИЕМ ПАРАМЕТРОВ
СВЕРХТОНКИХ ВЗАИМОДЕЙСТВИЙ
§ I. Уравнения Максвелла в слоистых анизотропных
средах
§ 2. Общий вил тензоров диэлектрической и магнитной проницаемостей мессбауэровской среды при наличии сверхтонких взаимодействий з?

§ 3. Матрицы распространения для конкретных
случаев сверхтонких взаимодействий
§ 4. Алгоритмы вычисления интегральных матриц
распространения слоя
§ 5. Вычисление коэффициента зеркального отражения от системы анизотропных слоев
§ 6. Численные расчеты коэффициента мессбауэровского отражения
Глава III. ИШЩАНСНЫЙ МЕТОД В МЕССЕАУЭРОВСКОЙ ОПТИКЕ
§ I. Общее определение импеданса в анизотропной
среде при произвольных углах падения
§ 2. Вычисление импеданса через собственные значения дисперсионного уравнения
§ 3. Приближенное выражение для тензорного импеданса для отдельной компоненты мессбауэ-ровского спектра
§ 4. Вычисление матричных экспоненциалов
§ 5. Рекурентные соотношения для тензоров отражения в многослойной анизотропной среде
Глава ЗУ. МАТРИЧНАЯ ТЕОРИЯ ДИФРАКЦИИ В УСЛОВИЯХ ПОЛНОГО ОТРАЖЕНИЯ
§ I. Вывод матричного уравнения в двухволновом
случае
§ 2. Частные случаи матрицы распространения
§ 3. Обсуждение методов решения матричного
уравнения
§ 4. Общее решение граничной задачи
ОСНОВНЫЕ РЕЗУЛЬТАТЫ РАБОТЫ
ЛИТЕРАТУРА
ПРИЛОЖЕНИЕ. Программа расчета коэффициента отражения
от анизотропной слоистой системы

В последние годы значительно возрос интерес к методу полного отражения излучений рентгеновского диапазона» Это связано в первую очередь с интенсивным развитием различных методов исследования поверхности твердых тел, дающих разнообразную информацию о ее структуре, составе и свойствах /1-3/. Сложность проблем, стоящих перед современной физикой поверхности, стимулирует развитие новых методов исследования поверхности и значительное совершенствование старых, давно известных. Каждый метод имеет определенные преимущества и ограничения. Поэтому несомненный интерес представляют комбинированные методы исследования. Например, сочетание метода полного отражения со спектральными исследованиями качественно изменяет объем информации, которую возможно получить с использованием рентгеновского излучения /4-9/. Дифракция в условиях полного отражения рентгеновского излучения предоставляет уникальные возможности исследования кристаллической структуры поверхности и тонких пленок /10-16/. В обоих этих методах эффект полного отражения излучения от поверхности используется для предельного уменьшения глубины проникновения излучения в образец (до Юг-ЮО 1). Разрешение по глубине, которое имеет место в методе полного отражения, сопоставимо лишь с методами Ожэ-электронной спектроскопии или дифракцией электронов низких энергий /17-18/, характер же информации, получаемой в различных модификациях метода полного отражения качественно изменяется.
Полное отражение мессбауэровского излучения является весьма перспективным методом исследования поверхности ввиду ценности информации, получаемой с помощью мессбауэровской спектроскопии, /19,20/, а именно: возможностью исследовать изменения параметров

І (г) = и ти'х
(2.75)
где матрица 7/ определена соотношением (2.69).
В более общих случаях сверхтонких взаимодействий найти собстщем случае решить дисперсионное уравнение, являющееся алгебраическим уравнением четвертого порядка. Учитывая малость взаимодействия излучения рентгеновского диапазона со средой, а также необходимость рассматривать только скользящие углы падения, при вычислении собственных значений целесообразно решать задачу приближенно, что в большинстве случаев оправдано. Так в рассмотренном уже случае (2.26) вместо собственных значений (2.60 и (2.61) приближенно можно написать
Дисперсионное уравнение для случая (2.28) имеет вид /82,86/:
венные значения матрицы М. не так просто, для этого надо в об-
(2.76)
(2.77)
+{сС +£) У
У(*+Р)
(2.78)
о6^+р)+ (о£+р)Г
Вычисление детерминанта прямым тензорным методом дает:
[Ьл - *гг + Ьг (,£ме][пс]) ] [ Ь±-7>г + Ь3 [&пс][мс])]- (2.79)
Ш**ТН]г