Исследование влияния деформации на структуру кристаллов сульфида и селенида цинка методом ЭПР

• Автор: Омельченко, Сергей Александрович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Днепропетровск
• Количество страниц: 108 c. : ил

Глава I. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
<21 У*
§ I. Спектры ЭПР Мп в кристаллах сульфида цинка
§ 2. Методика ЭПР-измерений
§ 3. Методика деформирования кристаллов
§ 4-. Образцы для исследований
Глава II. ВЛИЯНИЕ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ КРИСТАЛЛОВ n.S
НА СПЕКТШ ЭПР ПРИМЕСНЫХ ЦЕНТРОВ
§ I. Сведения о структуре кристаллов tinS и ее изменениях при пластической деформации
§ 2. Изменение спектров ЭПР Мп* при пластической
деформации кристаллов
§ 3. Изменение зарядовых состояний фоточувствителъных парамагнитных центров хрома и железа в кристаллах
электрическом поле неподвижных дислокаций
Глава III. ЭПР-ИССЛЕДОВАНИЯ "ОБРАТНОЙ" ДЕФОРМАЦИОННОЙ ПЕРЕОРИЕНТАЦИИ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ СУЛЬФИДА ЦИНКА
§ I. Зависимость последовательности плотноупакованных слоев пластически деформированных кристаллов от направления деформации
§ 2. "Кинетика" переориентации структуры при изменении направления деформации для частично продеформиро-ванных кристаллов UnS
Глава IV. ВЛИЯНИЕ УПРУГОЙ ДЕФОРМАЦИИ КРИСТАЛЛОВ ZnS НА
СПЕКТРЫ ЭПР ПРИМЕСНЫХ ИОНОВ А1пг+
§ I. Изменение спектров ЭПР Мпz* в процессе упругой
деформации кристаллов îCnS
§ 2. Обратимые изменения структуры кристаллов сульфида
цинка при упругой деформации
Глава V. ЭПР-ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ 2* Л И ЕЕ
ИЗМЕНЕНИЙ ПРИ ПЛАСТИЧЕСКОЙ ДЕФОРМАЦИИ
§ I. Сведения о структуре кристаллов селенида цинка
§ 2. Спектры ЭПР Мпг+ в кристаллах2я£е
§ 3. Анизотропные центры Мпг* в кристаллах 5е
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА

Кристаллы сульфида и селенида цинка являются типичными представителями соединений типа А2Вб - одного из наиболее важных в прикладном и теоретическом отношении классов полупроводниковых материалов. Они используются в твердотельной электронике, оптоэлектронике, акустоэлектронике, лазерной технике и др. Кристаллы соединений типа А В , помимо двух основных структурных модификаций (сфалерит и вюрцит), склонны к образованию разнообразных "промежуточных” структур (политипов и двойников). Так как каждая структурная модификация характеризуется своим набором физических свойств, ясно, что для улучшения качества и характеристик существующих приборов, а также для создания новых устройств на основе кристаллов сульфида и селенида цинка, необходимо решение вопроса управления их структурой. Перспективным в этом плане является метод деформационной перекристаллизации [и]. Он заключается в изменении структуры политипов и микродвойников сульфида цинка при движении частичных дислокаций, стимулированном пластической деформацией кристаллов. Однако для практического применения метода, расширения его возможностей и круга веществ с управляемой подобным образом структурой необходимо более глубокое понимание характера процессов, происходящих при деформационной перекристаллизации. Необходимые для этого экспериментальные данные могут быть получены при использовании метода электронного парамагнитного резонанса (ЭПР). Кроме этого, применение метода ЭПР позволяет выяснить важный для спектроскопии вопрос о характере поведения примесных центров и изменении их локальной симметрии в процессе деформационной перекристаллизации.

РсДБ

I т в» »
•ИЛ*
С С ОС V , •••••••

в в в в в в
оооооо
ввввввд • • • • • * ••••••
•••••••

‘*ж:
вев*еее
и С' О О С' с
>> о о о о
жч

о о о о о о о оооооо О О О О и О °вовооооо
л*.*.т
Ч<1
• •V*
Л*.*.*.*.*.
Хо^о°сй§?9
ОООссо о о о о о о
°о°о0о0о0о°о0 ,

ОООООО о с ОООО ООО ООО О О с о с о о СООООО ОООООО О О О О ООО , ' -'ООО О Ц о О о о о о 1,0 000

Рис.17. Схема, иллюстрирующая процесс переориентации двойниковой структуры кристаллов 'ИпБ в одноориентированную кубическую структуру, в результате последовательного прохождения частичных дислокаций. (При противоположных направлениях действия сдвиговых сил реализуются различные последовательности упаковки ... АВСАВС ... и ..* АСВАСВ ...» части
а) и б), соответственно.)