Исследование поверхностных слоев методом рентгеновской рефлектометрии
- Автор:
Новоселова, Елена Григорьевна
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
130 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фазовые превращения в бинарных и тройных полупроводниковых соединениях при высоких давлениях | Сайпулаева, Луиза Абдурахмановна | 2001 |
| Генерация и детектирование терагерцового излучения в полупроводниках и квантоворазмерных полупроводниковых структурах | Клименко, Олег Александрович | 2011 |
| Физические основы инженерии радиационных дефектов в диодных и МДП структурах | Якименко, Андрей Николаевич | 2012 |