Прямые и обратные задачи в рентгеновской рефлектометрии многослойных и пористых структур
- Автор:
Сутырин, Арсений Георгиевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
109 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Расчет точечных дефектов во фторидных кристаллах и кварце методом встроенного кластера | Мысовский, Андрей Сергеевич | 2004 |
| Анализ двойникования кристаллов мартенситной фазы в сплавах с эффектами памяти формы | Чжэн Шаотао | 2011 |
| Спектроскопические свойства легированных висмутом халькогенидных стекол и простейших галогенидных кристаллов | Филипповский, Денис Владимирович | 2014 |