Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения
- Автор:
Кривоносов, Юрий Станиславович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оксиды со структурой перовскита со смешанным электронно-ионным типом проводимости при варьировании их химического состава: характеризация методами рентгеновской спектроскопии | Егорова, Юлия Владимировна | 2016 |
| Динамика начальной стадии проникновения магнитного поля в высокотемпературные сверхпроводники | Калядин, Олег Витальевич | 2008 |
| Эффект памяти формы и сверхэластичность при термоупругом ϒ-α-мартенситном превращении в монокристаллах сплава FeNiCoAlNb | Куц, Ольга Анатольевна | 2016 |