Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения
- Автор:
Кривоносов, Юрий Станиславович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Взаимодействие примесей углерода в железе: ab initio моделирование | Ридный, Ярослав Максимович | 2019 |
| Получение и исследование наноалмазных пленок | Долганов, Матвей Александрович | 2013 |
| Верхнее критическое поле и транспортные свойства нормального состояния в системах YBa2 Cu3 O6+x и K x Ba1-x BiO3 с различными уровнями допирования | Цыдынжапов, Гомбо Эрыжанович | 1999 |