Определение шероховатости подложек и тонких пленок по рассеянию рентгеновских лучей в условиях внешнего отражения
- Автор:
Кривоносов, Юрий Станиславович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Эволюция реальной структуры кристаллов карбида кремния в процессах роста, пластической деформации и фазовых превращений | Бритун, Виктор Федорович | 1985 |
| Микротомография биологических объектов с использованием лабораторных рентгеновских источников | Сенин, Роман Алексеевич | 2005 |
| Трансмиссионная рентгеновская компьютерная томография в исследовании состава и структуры биоминералов | Нагибина, Наталья Александровна | 2006 |