Количественная катодолюминесцентная микроскопия прямозонных материалов полупроводниковой оптоэлектроники
- Автор:
Степович, Михаил Адольфович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2003
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
351 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование зарождения пластической деформации в ГЦК материалах на атомном уровне | Крыжевич, Дмитрий Сергеевич | 2009 |
| Исследования особенностей роста и фотолюминесценции Ge(Si) самоформирующихся островков, выращенных на Si(001) подложках и напряжённых Si1-xGex слоях | Лобанов, Дмитрий Николаевич | 2006 |
| Структурно-фазовые превращения и критические явления при интенсивном пластическом деформировании и разрушении металлов и сплавов | Васильев, Леонид Сергеевич | 2010 |