Поведение поверхностей скола щелочногалоидных кристаллов при воздействии электрического поля в области предплавильных температур

• Автор: Мексичев, Олег Александрович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2004
• Место защиты: Тамбов
• Количество страниц: 143 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ РАБОТЫ
Глава 1. ПОВЕДЕНИЕ ДИЭЛЕКТРИКОВ ПРИ РАЗЛИЧНЫХ ВНЕШНИХ ВОЗДЕЙСТВИЯХ (ОБЗОР ЛИТЕРАТУРЫ)
1.1. Твердые электролиты
1.1.1. Диэлектрики в зонной теории
1.1.2. Дефекты кристаллических структур
1.1.3. Поляризация диэлектриков
1.2. Электрострикция, пьезоэффект, пироэффект, сегнетоэлектрики
1.3. Электретный эффект
1.4. Ионная проводимость
1.5. Электрический пробой в диэлектриках
1.6. Цель и задачи исследования
Глава 2. СТРУКТУРА И МОРФОЛОГИЯ ПОВЕРХНОСТЕЙ ЩЕЛОЧНОГАЛОИДНЫХ КРИСТАЛЛОВ ПРИ НАГРЕВЕ В ЭЛЕКТРИЧЕСКОМ ПОЛЕ
2.1. Структура и морфология поверхностей ионных кристаллов при нагреве в электрическом поле, силовые линии которого ориентированы перпендикулярно поверхности
2.1.1. Материалы и методика эксперимента
2.1.2. Структура и морфология поверхностей после термоэлектрического воздействия
2.1.3. Результаты травления
2.1.4. Результаты микроиндентирования
2.1.4. Масс-спектрографическое исследование поверхностей
2.1.5. Рентгеноструктурное исследование поверхностей
2.2. Структура и морфология поверхностей ионных кристаллов при нагреве в электрическом поле, силовые линии которого ориентированы параллельно поверхности
2.2.1. Материалы и методика эксперимента
2.2.2. Структура и морфология поверхностей трещины
2.3. Поведение несплошностей, ограниченных поверхностями скола ионных кристаллов при нагреве в электрическом поле
2.3.1. Материалы и методика эксперимента
2.3.2. Результаты эксперимента
2.3.3. Обсуждение результатов
2.4. Поведение поверхностей внутреннего скола ЩГК в электрическом поле при одновременном нагреве
2.5. Выводы к главе
Глава 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТЕЙ ИОННЫХ КРИСТАЛЛОВ В ПРОЦЕССЕ НАГРЕВА И ВОЗДЕЙСТВИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПОЛЯ
3.1. Линии напряженности электрического поля ориентированы нормально поверхности
3.1.1. Материалы и методика эксперимента
3.1.2. Зависимость плотности тока от температуры
3.1.3. Зависимость напряженности электрического поля в воздушном зазоре от температуры
3.1.4. Зависимость поверхностной плотности электрического заряда от температуры
3.1.5. Обсуждение результатов
3.2. Линии поля ориентированы параллельно поверхности. Поверхностные токи
3.2.1. Методика эксперимента

2.1.4. Результаты микроиндентирования
Были проведены исследования обработанных поверхностей кристаллов методом микроиндентирования на установке ПМТ-3 с индентором Виккерса нагрузками 0,05 + 0,5 Н.
Воздействия индентором производили как в центры «капель», так и в участки поверхности свободные от них. Результаты индентирования показали следующее:
- воздействие индентором в центры «капель» нагрузками 0,05 - 0,1 Н не приводило к видимым изменениям в них, то есть имело место обратимое изменение формы «капель»;
- при нагрузках 0,2 - 0,5 Н наблюдалась динамика «капель» — вещество новообразований либо растекалось по деформированной области, либо разделялось на более мелкие части (рис. 2.6 а);
- индентирование поверхности на участках свободных от «капель» показало, что при малых нагрузках (0,05 - 0,1 Н) отпечаток от индентора в течение 30 - 60 с затекает желеобразным веществом и принимает округлую форму или исчезает совсем. С увеличением нагрузки - отпечаток со временем принимает форму квадрата с закругленными углами (рис. 2.6 б);
- значения микротвердости Ну обработанных и необработанных поверхностей образцов эквивалентны.
2.1.4. Масс-спектрографическое исследование поверхностей.
Масс-спектрографические исследования поверхностей обработанных кристаллов показали, что вещество «капель» отличается от химического состава исходного кристалла наличием примесей. Типичные спектрограммы для ПБ, КС1 и ЫаС1 приведены на рис. 2.7.