Наноразмерная модификация поверхности полупроводников и металлов зондом атомно-силового микроскопа
- Автор:
Щеглов, Дмитрий Владимирович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
149 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование дефектов кристаллической структуры ВТСП типа YBa2 Cu3 O6+x методами ЯКР/ЯМР | Мухамедшин, Ирек Рафкатович | 1999 |
| Эффекты локализации и межэлектронного взаимодействия при переходе двумерной системы к диэлектрическому состоянию | Дижур, Евгений Михайлович | 2006 |
| Фотостимулированные изменения состояния поверхностных слоев и микротвердости фольг сплава Cu-Ni | Колотов, Андрей Александрович | 2006 |