Фрактальный анализ поверхности слоев кремния, выращенных методом молекулярно-лучевого осаждения
- Автор:
Шиляев, Павел Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
133 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Косвенные взаимодействия ядерных спинов в сверхпроводящих оксидах Ba(Pb,Bi)O3 : исследования методами двойного ядерного магнитного резонанса | Оглобличев, Василий Владимирович | 2006 |
| Теоретический анализ формирования концентрационных профилей ионов в металлических материалах при воздействии пучками вакуумно-дуговых источников | Мельникова, Татьяна Сергеевна | 2011 |
| Волновое управление ростом двойникованных кристаллов мартенсита и формированием профилей кристаллов в неоднородной среде для γ - α превращения в сплавах на основе железа | Вихарев, Сергей Викторович | 2010 |