Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО
Каптелов, Евгений Юрьевич
01.04.07
Кандидатская
2005
Санкт-Петербург
124 с. : ил.
Стоимость:
250 руб.
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Развитие методов вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии для исследования многослойных полупроводниковых гетероструктур | Юнин, Павел Андреевич | 2016 |
| Атомная структура и энергия общих границ зерен наклона типа [100] в кубических кристаллах | Векман, Анатолий Валериевич | 2000 |
| Восстановление изображений внутренних структур сильнорассеивающих сред в трансмиссионной оптической томографии | Потапов, Дмитрий Александрович | 2004 |