Оптические свойства неоднородно нагретых кристаллов, методы исследования оптических неоднородностей кристаллов KDP и флюоритовых фаз M1-xRxF2+x (M - Ca, Ba; R-редкоземельные элементы)

• Автор: Марычев, Михаил Олегович
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2006
• Место защиты: Нижний Новгород
• Количество страниц: 192 с. : ил.

ГЛАВА 1. ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПРОЗРАЧНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ НЕОДНОРОДНО НАГРЕТЫХ КРИСТАЛЛОВ. ФЕНОМЕНОЛОГИЧЕСКИЙ ПОДХОД
1.1. Физические свойства кристаллов, оптические аномалии и неоднородности кристаллов. Влияние неоднородного нагрева на оптические свойства кристаллов группы КОР
1.2. Феноменологическая модель изменения тензора диэлектрической непроницаемости прозрачных диэлектрических кристаллов при их неоднородном нагреве
1.3. Влияние неоднородного нагрева на оптические свойства кристаллов с точечными группами С; и С,
1.4. Изменение оптической индикатрисы кристалла КОР при различных направлениях градиента температуры относительно оптической оси (в приближении плоскопараллельной бесконечной пластины). Иллюстрация к феноменологической модели
1.5. О возможности применения принципа Кюри к объяснению закономерностей термоиндуцированного изменения оптической индикатрисы кристалла
ГЛАВА 2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ЭФФЕКТА ТЕРМОИНДУЦИРОВАННОГО ДВУПРЕЛОМЛЕНИЯ В НЕОДНОРОДНО НАГРЕТОМ КРИСТАЛЛЕ КЭР
2.1. Экспериментальная установка для исследования термоиндуцированных изменений оптической индикатрисы прозрачных кристаллов
2.2. Экспериментальное исследование эффекта термоиндуцированного двупреломления в кристалле КОР при

продольной и поперечной ориентации градиента температуры относительно оптической оси кристалла
2.3. Кинетика изменения термоиндуцированного двупреломления кристалла КОР при коммутации нагрева. Исследование распределения термоиндуцированного двупреломления г-среза кристалла КЭР при его нагреве со стороны боковой грани
2.4. Исследование зависимости термоиндуцированного двупреломления г-среза кристалла КОР от освещенности его боковой
грани
ГЛАВА 3. ТЕРМООПТИЧЕСКИЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ТЕМПЕРАТУРОПРОВОДНОСТИ ПРОЗРАЧНЫХ ТВЁРДЫХ МАТЕРИАЛОВ
3.1. Общие сведения о распространении света в оптически неоднородной среде
3.2. Термооптический метод определения коэффициента температуропроводности прозрачного твёрдого материала
3.3. Экспериментальная методика и установка для измерения коэффициента температуропроводности твердых прозрачных материалов термооптическим методом
3.4. Некоторые экспериментальные результаты измерений коэффициента температуропроводности, полученные термооптическим методом
ГЛАВА 4. МИКРОСЛОИСТАЯ СТРУКТУРА КРИСТАЛЛА КЭР, МЕТОД ЕЁ ВИЗУАЛИЗАЦИИ С ПОМОЩЬЮ ФАЗОВО-КОНТРАСТНОЙ ПРИСТАВКИ И КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА
4.1. Общие сведения о микрослоистой структуре водорастворимых кристаллов
4.2. Метод визуализации микрослоистой структуры кристалла КЭР и
её исследования с помощью фазово-контрастной приставки

4.3. Метод определения количественных характеристик микрослоистой структуры, наблюдаемой с помощью фазовоконтрастной приставки
ГЛАВА 5. МЕТОДЫ НАБЛЮДЕНИЯ И КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА ОПТИЧЕСКИХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ КРИСТАЛЛОВ ФЛЮОРИТОВЫХ ФАЗ М,.х/СЕ2+х {М- Са, Ва; Л - РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ)
5.1. Общая характеристика кристаллов флюоритовых фаз М.ХЯХЕ2+х (М- Са, Ва; Я - редкоземельные элементы) и их оптических неоднородностей
5.2. Статистический метод анализа неоднородностей изображений
5.3. Оценка средних размеров оптических неоднородностей флюоритовых кристаллов М.ХЯХ¥2+Х при помощи статистического метода анализа неоднородностей изображений
5.4. Наблюдение макронеоднородностей флюоритовых кристаллов М.ХЯХР2+х при помощи поляризационного метода. Ячеистая субструктура
5.5. Наблюдение макронеоднородностей флюоритовых кристаллов М[.хЯх¥2+х при помощи теневого метода
ВЫВОДЫ
ЛИТЕРАТУРА

График зависимости принимает вид
J— - a - U (U - в вольтах), (2.1.3)

где а - коэффициент пропорциональности при линейной аппроксимации данных рис. 2.1.5.
Напряжение прямо пропорционально интенсивности света, выходящего из анализатора или произведению интенсивности света, входящего в анализатор, и квадрата косинуса угла между плоскостями пропускания поляризатора и анализатора:
U = kl = kl0 • cos2 а, (2.1.4)
где к - некоторый коэффициент пропорциональности.
При cos2 а -1 напряжение максимально и выражение (2.1.4) приобретает вид:
„=*•/„ (2.1.5)
Из выражения (2.1.5) следует, что значения интенсивности света, выходящего из анализатора, лежат в промежутке [0;/0 ] • Поэтому
напряжение является функцией интенсивности света, входящего в анализатор.
(2.1.6)
Максимальные значения напряжения при градуировке и при
проведении эксперимента с кристаллом могут различаться. Это происходит из-за различия интенсивности света, входящего в анализатор.