Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решётки в тонких плёнках на основе халькогенидов и оксидов металлов
- Автор:
Швамм, Константин Леович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Екатеринбург
- Количество страниц:
150 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование электрофизических свойств и электрополевая модификация наноразмерных оксидных слоев методом комбинированной сканирующей туннельной/атомно-силовой микроскопии | Антонов, Дмитрий Александрович | 2011 |
| Формирование и эволюция структуры и фазового состава силумина при электронно-пучковой обработке и многоцикловой усталости | Аксёнова Крестина Владимировна | 2016 |
| Исследование магнитных свойств диспрозий-иттриевых ферритов-гранатов при низких температурах | Федоров, Георгий Евгеньевич | 2002 |