Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решётки в тонких плёнках на основе халькогенидов и оксидов металлов
- Автор:
Швамм, Константин Леович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Екатеринбург
- Количество страниц:
150 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Особенности поверхностного упрочнения титана при электровзрывном легировании и электронно-пучковой обработке | Карпий, Сергей Васильевич | 2011 |
| Фотостимулированное дефектообразование и молекулярные процессы на поверхности широкощелевых галогенидов и оксидов металлов | Рябчук, Владимир Константинович | 2008 |
| Коллективные явления в ловушках для Бозе-конденсации диполярных экситонов | Горбунов Александр Васильевич | 2015 |