Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решётки в тонких плёнках на основе халькогенидов и оксидов металлов
- Автор:
Швамм, Константин Леович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Екатеринбург
- Количество страниц:
150 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решётки в тонких плёнках на основе халькогенидов и оксидов металлов», автор — Швамм, Константин Леович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Екатеринбург в 2007 году. Объем работы: 150 с. : ил.. Внутренний код товара: 01003398218. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование механизмов миграции и агрегатизации точечных дефектов в ГЦК металлах | Аксенов, Михаил Сергеевич | 2006 |
| Физические основы создания, конструирования и применения оксидных катодов с высокодисперсными металлическими включениями | Киселев, Алексей Борисович | 2002 |
| Синтез, структура и фазовый состав пленок CuInSe2 | Базовой, Борис Павлович | 2000 |