Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решётки в тонких плёнках на основе халькогенидов и оксидов металлов
- Автор:
Швамм, Константин Леович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Екатеринбург
- Количество страниц:
150 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Нелинейные электромеханические свойства сегнетоэлектриков с несоразмерными фазами | Каллаев, Сулейман Нурулисланович | 1999 |
| Корреляционные и динамические эффекты в пространственно неоднородных системах | Токатлы, Илья Витальевич | 2003 |
| Закономерности структурообразования в зоне контакта кристаллических твердых тел при сварке взрывом | Ушанова, Элина Артуровна | 2015 |