Полевая ионная микроскопия ГЦК-металлов после интенсивных внешних воздействий

• Автор: Медведева, Елена Валерьевна
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2007
• Место защиты: Екатеринбург
• Количество страниц: 119 с. : ил.

Глава 1. Литературный обзор и постановка задачи

1.1. Полевая ионная микроскопия дефектной структуры

металлов и сплавов

1.1.1. Формирование ионных изображений чистых металлов

1.1.2. Формирование ионных изображений сплавов

1.1.3. Анализ ионного контраста дефектов кристаллической решетки материалов

1.1.3.1. Точечные дефекты

1.1.3.2. Линейные дефекты

1.1.3.3. Атомная структура границ зерен

1.2. Ионный контраст радиационных дефектов

1.2.1. Полевая ионная микроскопия дефектов, инициированных нейтронным облучением

1.2.1.1. Изучение пространственного распределения вакансий и их скоплений
1.2.1.2. Характеристики отжига дефектов, образовавшихся при нейтронном облучении
1.2.2. Модификация кристаллической структуры металлов и сплавов при ионном облучении
1.2.2.1. Радиационные повреждения в чистых металлах. Эффекты, обусловленные статическими и динамическими полями напряжений
1.2.2.2. Эффекты ионно-лучевой модификации кристаллической структуры сплавов

1.3. Полевая ионная микроскопия нанокристаллических металлов и сплавов
1.4. Постановка задачи исследования
Глава 2. Методика и техника эксперимента
2.1. Полевая ионная микроскопия
2.1.1. Вакуумная система и камера полевого ионного микроскопа
2.1.2. Ионно-электронный конвертер
2.1.3. Изготовление полевых эмиттеров.
2.1.4. Индексация и расшифровка ионных микрокартин
2.2. Методика дилатометрических измерений
Глава 3. Исследование влияния, интенсивной пластической деформации на механические свойства и структуру ГЦК-материалов
3.1. Условия деформации никелевых образцов
3.2. Исследование влияния размера исходного и формируемого в процессе деформации зерна на структуру и свойства деформированного никеля
3.2.1. Влияние размера исходного зерна на деформационное упрочнение в условиях интенсивной пластической деформации
3.2.2. Исследование изменений структуры и механических свойств никеля в ходе интенсивной пластической деформации
3.3. Атомная структура дефектов в ГЦК-металлах после интенсивной пластической деформации
3.4. Выводы к главе

Глава 4. Изучение атомной структуры и пространственного
распределения радиационных повреждений в чистой
платине
4.1. Аттестация и режимы облучения платиновых
образцов
4.2. Полевая ионная микроскопия каскадов атомных смещений в облученной нейтронами платине
4.3. Дилатометрические исследования отжига дефектов, инициированных нейтронным облучением
4.4. Атомная структура радиационных дефектов платины, облученной ускоренными ионами Аг+
4.5. Выводы к главе
ОСНОВНЫЕ ВЫВОДЫ
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК

структуры ионных микрокартин одинаково высокая, так как изображение создают атомы одного сорта. Изображаемость атома на ионной микрокартине поверхности твердого раствора зависит как от селективной ионизации, так и от селективного испарения электрическим полем. В случае преимущественного испарения один сорт атомов более легко испаряется полем с места атома в изломе ступеньки (см. рис. 3), нежели атом другого типа, занимающий адекватное положение (бинарные сплавы).
Поскольку вершина образца-острия после полевого испарения in situ, как правило, представляет собой полусферу, семейства кристаллографических плоскостей различных ориентации кристалла проявляются на экране прибора в виде семейств концентрических колец, центрами которых служат соответствующие выходы кристаллографических направлений. Сами кольца состоят из отдельных точек изображения, соответствующих поверхностным атомам в изломе ступеньки (см. рис. 3), Таким образом, ионный микроснимок полностью передает симметрию кристаллической структуры материала (рис. 9). Это касается всех известных кристаллографических структур и, в частности, наиболее типичных для металлов: ГЦК, ОЦК, ГПУ и др. Практически все исследуемые в полевом ионном микроскопе материалы дают ионные изображения, которые легко расшифровываются с помощью стереографических проекций соответствующих структур (рис. 10).