Атомно-силовая микроскопия в исследовании шероховатости наноструктурированных поверхностей
- Автор:
Занавескин, Максим Леонидович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Моделирование концентрационной микронеоднородности полупроводниковых кристаллов при выращивании методами вертикальной направленной кристаллизации | Дормидонтов, Алексей Николаевич | 2014 |
| Оптические свойства поверхностных фаз In и тонких пленок силицидов Fe и Cr на Si(111) | Доценко, Сергей Андреевич | 2006 |
| Кинетические эффекты в манганитах лантана с колоссальным магнитосопротивлением | Машкауцан, Владимир Валерьевич | 2001 |