Закономерности процессов двойникования, обусловленные дефектной структурой, сформированной механико-термическим воздействием, на примере технически чистого титана

• Автор: Никулин, Иван Сергеевич
• Шифр специальности: 01.04.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2010
• Место защиты: Белгород
• Количество страниц: 117 с. : ил.

Содержание
Введение

Глава 1. Двойникование кристаллов

1.1. Введение в двойникование металлических структур

1.1.1. Особенности поведения двойников

1.1.2. Структура двойниковых границ

1.1.3. Устойчивость упругого двойника в кристаллической решетке

1.1.4. Механические свойства границ двойниковых прослоек. Влияние

двойникования на прочностные характеристики материала

1.2. Двойникование титана

Глава 2. Объект и методы исследования

2.1. Выбор материала и методика подготовки образцов к испытаниям
2.2. Описание эксперимента
2.3. Приборы и оборудование
Глава 3. Физико-механические свойства титана марки ВТ1-0 после интенсивной пластической деформации прокаткой, волочением и последующего температурного воздействия
3.1. Влияние интенсивной пластической деформации прокаткой на микроструктуру и механические свойства титана
3.2. Влияние режимов термического воздействия на структуру и механические свойства титана, подверженного интенсивной пластической деформации прокаткой
3.3. Влияние закалки от высоких температур на физико-механические параметры титана марки ВТ
Выводы к главе
Глава 4. Образование и развитие механических двойников в результате действия концентрированного напряжения
4.1. Образование механических двойников в титане под действием концентрированного напряжения
4.2. Образование и развитие механических двойников в результате действия концентрированного напряжения в закаленном от 1100°С титане
4.3. Геометрические параметры механических двойников
Выводы к главе
Глава 5. Состояние структуры после МТО и ее влияние на процесс двойникования в титане ВТ
5.1. Состояния микроструктуры после МТО
5.2. Влияние дефектов на процесс двойникования
Выводы к главе
Использованная литература

Введение.
Актуальность темы. Возрастающая востребованность титана в различных отраслях промышленности и быта в широком интервале механико-температурных режимов эксплуатации требует достоверных знаний о поведении его физических, механических, химических и других свойств в реальных условиях. Созданные и нашедшие в исследовательских работах технические решения позволяют решать эти и другие вопросы с большей точностью при значительном сокращении временных и энергетических параметров. Титан и его сплавы на протяжении последних десятилетий активно исследовались с помощью оборудования, точность и надежность измерений которого совершенствовалось от поколения к поколению, и методик, широко использующих компьютерные технологии.
Несмотря на интенсивное исследование титана и его сплавов, обширный научный материал, опубликованный в монографиях и специализированных журналах, интерес к исследованию свойств, связанных с требованиями к надежности деталей из титана в процессе эксплуатации, возрастает.
Однако, многие стороны его свойств требуют уточнения, а такие проблемы, как надежность в процессе эксплуатации деталей, биосовместимость и экономичность при их изготовлении требуют новых подходов при разработке технологических процессов.
Изучение зарождения и поведения двойников в кристаллах с ГПУ-строением решетки было и остается одной из главных физических задач материаловедения, поскольку двойникование является одной из основных причин, влияющей на физико-механические свойства чистого и технически чистого титана. Нахождение механизма уменьшения активности процесса двойникования и получения реальных способов блокировки двойниковых прослоек в объеме кристаллического строения титана относится к актуальным проблемам современного материаловедения.

измерить рельеф поверхности в зоне двойника. Программа Nova, позволяющая оперировать полученными данными зондовой микроскопии, дает возможность строить как трехмерные изображения поверхности образца, так и поперечные профили сечения исследуемой зоны. Сканирование поверхности осуществлялось полуконтактным и контактным методом в зависимости от чистоты образца и условий съемки.
Рис. 2.4. Зондовая лаборатория Integra Aura.
- Современный аналитический просвечивающий электронный микроскоп «JEM-2100» (рис. .2.5), оснащенный 200 kV электронной пушкой с полевой эмиссией и энергетическим фильтром, позволяет производить элементный и химический анализ.