Электронная микроскопия композиций на основе тонких пленок для микроэлектроники
- Автор:
Хмеленин, Дмитрий Николаевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
166 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние экранирования деполяризующих полей на кинетику доменной структуры монокристаллов семейства ниобата лития и танталата лития | Ахматханов, Андрей Ришатович | 2012 |
| Электрофизические свойства матричных нанокомпозитов на основе синтетических цеолитоподобных алюмофосфатов | Трифонов, Сергей Васильевич | 2011 |
| Элементарные процессы на ступенях в кинетике эпитаксиального роста и легирования при сильных отклонениях от равновесия | Эрвье, Юрий Юрьевич | 2012 |