Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоуглового рентгеновского рассеяния
- Автор:
Вальковский, Глеб Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование размерных эффектов в тонких сегнетоэлектрических пленках зондовым методом периодического нагрева | Давитадзе, Сулхан Тамазович | 2004 |
| Кристаллографический анализ картин дифракции и выявление роли кристаллографической ориентации при формировании фрагментированных структур в ионно-модифицированном поверхностном слое моно- и поликристаллов никелида титана | Твердохлебова, Ассоль Валерьевна | 2017 |
| Метастабильные и неравновесные фазы в бинарных сплавах титана с металлами I, V-VIII групп | Елькин, Валерий Александрович | 1999 |