Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоуглового рентгеновского рассеяния
- Автор:
Вальковский, Глеб Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Теоретическая модель развития газовой пористости в материалах ядерных реакторов | Чкуасели, Валерий Филиппович | 1983 |
| ЭПР и закономерности распределения парамагнитных точечных дефектов в кристаллах | Низамутдинов, Назым Минсафович | 2000 |
| Диэлектрические свойства монокристаллов ТГС, облученных сильноточным импульсным пучком электронов | Клевцова, Екатерина Анатольевна | 2002 |