Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоуглового рентгеновского рассеяния
- Автор:
Вальковский, Глеб Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоуглового рентгеновского рассеяния», автор — Вальковский, Глеб Андреевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 2013 году. Объем работы: 131 с. : ил.. Внутренний код товара: 01006568333. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Структурные, электрические, фотоэлектрические свойства кристаллов и пленок CuInSe2, полученных методами Бриджмена и двухзонной селенизации | Гаджиев, Тимур Мажлумович | 2017 |
| Исследование суперлокализации пластической деформации монокристаллов сплава Ni2Ge | Липатникова, Яна Данияровна | 2014 |
| Закономерности влияния обменных взаимодействий между компонентами донорно-акцепторных пар на вероятность интеркомбинационных переходов в молекулах акцепторов | Тищенко, Андрей Борисович | 2007 |