Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоуглового рентгеновского рассеяния
- Автор:
Вальковский, Глеб Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоуглового рентгеновского рассеяния», автор — Вальковский, Глеб Андреевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 2013 году. Объем работы: 131 с. : ил.. Внутренний код товара: 01006568333. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Сверхтонкие взаимодействия в манганитах | Лескова, Юлия Владимировна | 2010 |
| Коллективные и одночастичные возбуждения в двойных электронных слоях | Товстоног, Сергей Валерьевич | 2004 |
| Тепловые процессы в системах металлизаций полупроводниковых структур и керамик | Зуев, Сергей Михайлович | 2012 |