Исследование структуры интерфейсов многослойных систем методами малоуглового рентгеновского рассеяния
- Автор:
Вальковский, Глеб Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование микро- и нанодоменных структур в монокристаллах ниобата лития методом сканирующей лазерной конфокальной микроскопии комбинационного рассеяния | Зеленовский, Павел Сергеевич | 2010 |
| Исследования структуры и фазового состава поверхностного слоя стали Гадфильда после испытаний на трение | Алешина, Елена Анатольевна | 2007 |
| Метастабильность магнитного состояния и особенности намагничивания малых химически неоднородных частиц | Ралин, Андрей Юрьевич | 2001 |