Разработка и исследование соударительного фотоионизационного метода анализа ультрафиолетового излучения

• Автор: Тумаркин, Яков Наумович
• Шифр специальности: 01.04.05
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Ленинград
• Количество страниц: 170 c. : ил

ГЛАВА I. Обзор литературы и обоснование работы

§ І.І. Фотоэлектронная спектроскопия

§ 1.2. Фотоионизационная спектроскопия

излучения

§ 1.3. Энергоанализаторы электронов

§ 1.4. Выводы

Глава II. Анализ процессов, происходящих в соудари-тельном фотоионизационном спектрометре излучения и моделирование их на ЭВМ

§ 2.1. Процессы, приводящие к уширению электронных линий в спектрометре

§ 2.2. Оценка влияния пространственного заряда

на положение и ширину электронной линии..30 § 2.3. Расчёт среднего изменения энергии электрона и его дисперсии при упругом соударении с атомом

§ 2.4. Изменение энергии электронов при упругих

соударениях с атомами рабочего газа
§ 2.5. Моделирование процесса диффузии электронов в камере спектрометра на ЭВМ
§ 2.6. Выводы
Глава III. Теория соударительного фотоионоизационного спектрометра излучения
§ 3.1. Постановка задачи

§ 3.2. Идеализированная вольт-амперная характеристика фотоионизационного спектрометра
§ 3.3. Аппаратная функция фотоионизационного спектрометра
§ 3.4. Уширение электронных линий при упругих соударениях с атомами рабочего газа при работе фотоионизационного спектрометра в линейном режиме
§ 3.5. Уширение аппаратной функции фотоионизационного спектрометра, работающего в насыщенном режиме, при низких температырах рабочего
газа
§ 3.6. Уширение аппаратной функции фотоионизационного спектрометра вследствие теплового движения атомов рабочего газа
§ 3.7. Вольт-амперная характеристика и аппаратная функция фотоионизационного спектрометра при
низких давлениях рабочего газа
§ 3.8. Выводы
ГЛАВА ІУ. Аппаратура и экспериментальные результаты..113 § 4.1. Оценка условий наблюдения уширения электронных линий соударениями
§ 4.2. Описание экспериментальной установки
§ 4.3. Электронные зеркала с малыми потерями электронов. Насыщенный режим работы фотоионизационного спектрометра
§ 4.4. Использование коллиматора электронов для
анализа их по энергиям

§ 4.5. Конструкция энергоанализатора и детектора
электронов
§ 4.6. Автоматизация и программное обеспечение
эксперимента
§ 4.7. Измерение давления рабочего газа в фотоионизационном спектрометре излучения
§ 4.8. Измерение уширения электронных линий в фото-ионизационном спектрометре при упругих соударениях с атомами рабочего газа
§ 4.9. Измерение уширения электронных линий упругими соударениями с использованием неупругого рассеяния электронов
§ 4.10.Измерение сечений упругого рассеяния электронов на атомах рабочего газа в фотоионизационном спектрометре излучения
§ 4.II.Установка для измерения сечений рассеяния электронов на атомах. Экспериментальные
результаты
§ 4.12.Выводы
ОБЩИЕ ВЫВОДЫ
ЛИТЕРАТУРА

алгоритму. Сплошные кривые получены с учетом температурного уширения (т.е. для температуры 300°К), а пунктирные кривые - для нулевой температуры рабочего газа. Кривые нормированы на полное чисйо электронов, рождающихся в спектрометре в единицу времени. Видно, что на рис.9 кривые быстро нарастают и почти достигают значения I при уменьшении задерживающего потенциала, в отличие от кривых рис.8. Это происходит из-за того, что ларморовский радиус для электронов с энергией I эВ меньше, чем для электронов с энергией 10 эВ, таким образом,, электроны с энергией I эВ оказываются сильно замагниченными, потери их на боковых стенках малы. Видно также, что в этом случае сильнее влияние температурного уширения (на рис.9 рост кривых, соответствующих 300°К начинается от напряжений задержки, больших, чем начальная энергия электронов). Это объясняется тем, что тепловое движение атомов уширяет электронные линии на величину порядка И Т', что при 300° К соответствует примерно 0,025 эВ. На рис.9 это уширение хорошо заметно,
.ОРИ ,
а на рис.8 теряется из-за более мелкого масштаба поуабс-цисе.
Таким образом, метод машинного моделирования позволил нам получить функции распределения электронов по энергии в фотоионизационном спектрометре излучения при различных напряжениях задержки, в различных магнитных полях и при заполнении спектрометра различными рабочими газами. Получены также вольтамперные характеристики спектрометра для различных условий. Это позволило понять роль различных процессов и их влияние на энергию электронову'следовательно,