Оптические методы исследования интегральных и локальных параметров голографических дифракционных структур

• Автор: Горяинова, Ирина Валерьевна
• Шифр специальности: 01.04.05
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2008
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 158 с. : ил.

СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
ГДС - голографические дифракционные структуры
ГОЭ - голографические (или голограммные) оптические элементы
ДЭ - дифракционный элемент
ГЗУ - голографические запоминающие устройства
ТМГ - точечно-матричная голография
ЭЛЛ - электронно-лучевая литография
ОГ - оптическая голография
ФИМ - флуоресцентно-интерференционный микроскоп ФЭУ — фотоэлектронный умножитель
Глава 1 Исследование интегральных параметров оптического
излучения взаимодействовавшего с голографическими дифракционными
микроструктурами
1.1 Метод Кирхгоффа с учетом фазы волнового фронта
светового излучения
1.1.1 Регистрация параметров лазерного луча
1.1.2 Моделирование распространения лазерного пучка по методу Кирхгофа
1.1.2.1 Выбор шага дискретизации при численном описании лазерных полей методом Кирхгофа
1.1.2.2 Результаты моделирование распространения лазерного пучка методом Кирхгоффа
1.2 Метод оптической томографии
1.2.1 Регистрация мощности излучения
1.2.2 Получение томографических проекций
1.2.3 Реконструкция распределения интенсивности
Глава 2 Методы и установки для исследования интегральных параметров голографических дифракционных структур
2.1 Интегральные параметры голографических дифракционных структур и их связь с параметрами микроструктуры
2.2 Автоматизированная установка и программное обеспечение для исследования параметров оптических голографических дифракционных структур
2.2.1 Установка для регистрации параметров оптических голографических дифракционных структур
2.2.2 Программное обеспечение для расчета параметров схемы записи оптических голографических дифракционных структур
2.2.3 Результаты исследований голограмм
2.2.4 Программное обеспечение подготовки данных для формирования оптических голографических дифракционных микроструктур
2.3 Автоматизированная установка и программное обеспечение для исследования интегральных параметров голографических дифракционных структур
2.3.1 Установка для регистрации интегральных параметров голографических дифракционных структур
2.3.2 Программное обеспечение для автоматизации регистрации и оценки интегральных параметров ГДС
Глава 3 Методы и установки для исследования локальных параметров голографических дифракционных структур
3.1 Классификация голографических дифракционных микроструктур по методу формирования мастер-голограмм
3.2 Установка и программное обеспечение для определения типа голографических дифракционных структур
3.2.1 Установка для определения типа голографических дифракционных элементов
3.2.1.1 Описание микроскопа
3.2.1.2 Метод повышения контраста изображения
путем регистрации дифрагировавшего излучения
3.2.2 Программное обеспечение для определения типа голографических дифракционных структур
3.3 Установка и программное обеспечение для исследования локальных параметров голографических дифракционных структур

Из полученных результатов следует, что при позиционировании лазерного пучка на расстояние более 75 мм от торца световода отклонение значений тока ФЭУ, пропорционального мощности излучения, выходящего с торца не превышало 12% относительно среднего значения. Именно эта область поверхности световода использовалась для томографических измерений распределения энергии в сечении лазерного пучка. Полученную величину отклонения тока ФЭУ от среднего значения можно принять в качестве величины амплитудной погрешности проекционных данных, что считается вполне приемлемым в оптической малоракурсной томографии [82]. Таким образом, была подтверждено предположение о том, интенсивность излучения, выходящего из торца использованного световода, пересекающего лазерный пучок, пропорциональна интегралу Радона вдоль световода от распределения интенсивности в исследуемом пучке.
1.2.2 Получение томографических проекций
Для получения проекций сечения пучка мощного технологического лазера была собрана установка, представленная на рисунке 1.22.
1-сечение исследуемого лазерного пучка; 2-зондирующий световод; 3-ФЭУ; 4-система поступательного перемещения; 5-система вращательного перемещения; 6-корпус установки; 7-ПЭВМ.
Рисунок 1.22 - Схема установки для получения томографических проекций сечения пучка мощного лазера