Оптические методы высокоточного измерения геометрических размеров объектов на основе дифракции света
- Автор:
Ялуплин, Михаил Дмитриевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Краснодар
- Количество страниц:
117 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Численное моделирование и компьютерный дизайн оптических свойств наноструктурированных материалов | Дейнега, Алексей Вадимович | 2010 |
| Частотный репер в области 732 нм для прецизионной лазерной спектроскопии мюония | Колкер, Дмитрий Борисович | 2001 |
| Расчет и анализ ахроматизированных дифракционных и дифракционно-рефракционных оптических систем рентгеновского диапазона | Казин, Сергей Владимирович | 2012 |