Оптические методы высокоточного измерения геометрических размеров объектов на основе дифракции света
- Автор:
Ялуплин, Михаил Дмитриевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Краснодар
- Количество страниц:
117 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Колебательно-вращательная спектроскопия молекул аксиальной симметрии на примере дейтеропроизводных метана | Тябаева, Наталия Евгеньевна | 2000 |
| Взаимодействие лазерных импульсов нано- и фемтосекундной длительности с микро- и нанодисперсными средами | Землянов, Алексей Анатольевич | 2013 |
| Исследование процессов возбуждения молекул в газоразрядной плазме в смеси окиси углерода с гелием | Блашков, Владимир Иванович | 1985 |