Исследование двухчастотных полупроводниковых лазеров методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии
- Автор:
Левичев, Вадим Вячеславович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
132 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование двухчастотных полупроводниковых лазеров методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии», автор — Левичев, Вадим Вячеславович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.05. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 2009 году. Объем работы: 132 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004321053. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка основ статистической фурье-спектроскопии | Романов, Андрей Михайлович | 2001 |
| Экспериментальное исследование волновых чисел и определение оптимальных значений энергии триплетных ровибронных уровней молекулы дейтерия | Умрихин, Иван Сергеевич | 2012 |
| Повышение чувствительности оптико-физических измерений путем нелинейной обработки изображений | Носков, Михаил Федорович | 2007 |