Исследование двухчастотных полупроводниковых лазеров методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии
- Автор:
Левичев, Вадим Вячеславович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
132 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Численное моделирование лазерного сопровождения объектов в турбулентной атмосфере | Филимонов, Григорий Алексеевич | 2011 |
| Оптические свойства волокон с присадками ионов переходных металлов | Осипова, Наталья Геннадьевна | 2004 |
| Разработка оптических методов исследования объектов с дифракционным и субдифракционным пространственным разрешением | Парфенов, Петр Сергеевич | 2008 |