Исследование двухчастотных полупроводниковых лазеров методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии
- Автор:
Левичев, Вадим Вячеславович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
132 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Мощностные характеристики волоконного ВКР-лазера со случайной распределенной обратной связью | Ватник, Илья Дмитриевич | 2014 |
| Фотофизические процессы в сложных молекулярных системах со структурной гетерогенностью | Мукушев, Булат Тельманович | 1999 |
| Создание автоматизированного метода расчета допусков на конструктивные элементы центрированных оптических систем со сферическими и плоскими поверхностями | Кунделева, Наталия Ефимовна | 1982 |