Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света
- Автор:
Ермаков, Виктор Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
113 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Влияние сильных электрических полей на динамику электронных возбуждений в зоне проводимости широкозонных диэлектриков | Яценко, Борис Николаевич | 2003 |
| Структурные особенности и оптические свойства тонких слоев аморфного гидрогенезированного углерода | Коншина, Елена Анатольевна | 2009 |
| Стохастические режимы генерации непрерывного волоконного BKP-лазера | Чуркин, Дмитрий Владимирович | 2014 |