Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света
- Автор:
Ермаков, Виктор Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
113 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света», автор — Ермаков, Виктор Анатольевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.05. Работа подготовлена в городе Санкт-Петербург в 2011 году. Объем работы: 113 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004962322. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование оптико-электронных корреляционных систем с использованием элементов нейронных сетей для распознавания изображений | Козик, Виктор Иванович | 1997 |
| Светорассеяние нетканых и тканых материалов и интерферометрия аэрозольных частиц | Карманов, Игорь Николаевич | 2001 |
| Исследование интегрально-оптических элементов для квантовой криптографии с фазовым кодированием | Кулиш, Ольга Александровна | 2005 |