Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света

• Автор: Ермаков, Виктор Анатольевич
• Шифр специальности: 01.04.05
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2011
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 113 с. : ил.

ОГЛАВЛЕНИЕ
СПИСОК УСЛОВНЫХ СОКРАЩЕНИЙ:
ВВЕДЕНИЕ / ’ ,
ГЛАВА 1. ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ; СПЕКТРОСКОПИИ.
КОМБИЕ1АЦИОМИОГО РАССЕЯН! 1Я СВЕТА (КР)
1.1 Нерезонансное комбинационное рассеяние света
1.2 Резонансное комбинационное рассеяние света
1.3 Особенности спектроскопии микро-КР
1.4 Особенности спектроскопии микро-КР при исследовании
наноструктур
1.4; 1 Низкочастотное КР; ; /
1.4.2 Двойной.связанный резонанс в: комбинационном рассеянии?■
наноструктурированных углеродных материалов.
ГЛАВА 2. СПЕКТРОСКОПИЯ МИКРО-КР ИНДУЦИРОВАННЫХ ТЕМПЕРАТУРОЙ СТРУКТУРНЫХ ИЗМЕНЕНИЙ В ТОНКИХ ПРОВОДЯЩИХ И ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛЕНКАХ
2.1 Структурно-химические переходы в проводящих пленках №81
2.1.1 Приготовление образцов!Пленок силицидов никеля
2.1.2 Предварительная характеризация образцов силицидов никеля
2.1.3 Структурные изменения в проводящих пленках силицидов никеля:
спектроскопия микро-комбинационнош рассеяния света
2.2 Струкгурно-фазовые.переходы в пьезоэлектрических пленках РЬгТ
2.2.1 Приготовление образцов PSZT пленок
2.2.2 Предварительная характеризация образцов силицидов никеля
2.2.3 Структурные переходы в пьезоэлектрических пленках Р8гТ:
спектроскопия мйкро-комбинационного рассеяния света

ГЛАВА 3. СПЕКТРОСКОПИЯ КР ТИТАНОСОДЕРЖАЩИХ ЦИНКОВОВОАЛЮМОСИЛИКАТНБ1Х СИТАЛЛОВ, ЛЕГИРО-ВАННЫХ
ИОНАМИ КОБАЛЬТА
3 Л Основные сведения о структурных особенностях наностеклокерамик
(ситаллов).
3.2 Особенности структуры и оптические свойства титаносодержащих цинковоалюмосиликатных ситталлах, легированных СоО
3.3 Приготовление образцов ситаллов и их предварительная характеризация
3.4 Исследование структурно-химических превращений в ЦАС стеклах, легированных кобальтом, методами спектроскопии КР.
3.4.1 Спектроскопия микро-комбинационного рассеяния света
3.4.2 Спектроскопия низкочастотного комбинационного
рассеяния света
ГЛАВА 4. ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРНЫХ ОСОБЕННОСТЕЙ
СЛОИСТЫХ НАНОГРАФИТОВ МЕТОДОМ СПЕКТРОСКОПИИ МИКРО-КР
4.1 Структурные особенности частиц многослойных нанографитов.
4.2 Приготовление образцов многослойных нанографитов и их характеризация
4.3 Исследование структурных особенностей частиц многослойных нанографитов методом спектроскопии микро-КР
ЗАКЛЮЧЕНИЕ ЮС
ПУБЛИКАЦИИ ПО МАТЕРИАЛАМ ДИССЕРТАЦИИ
СПИСОК ЦИТИРУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ

СПИСОК УСЛОВНЫХ СОКРАЩЕНИЙ
KP - комбинационное рассеяние света;
РКР - резонансное комбинационное рассеяние света;
НКР - низкочастотное комбинационное рассеяние;
КМОП-структуры - комплименарные метал-окисл-полупроводник структуры;
МОП - металл-окисл-полупроводник;
PSZT - (Pbo.92Sro.08)(Zr0.65Tio.35)03;
РМУ - малоугловое рентгеновское рассеяние;
РФА - рентгено-фазовый анализ;
ЦАС - цинковоалюмосиликатный;
ЦАТ - цинковоалюмотитанатный;
ОС - остаточная стеклофаза;
ФЭУ - фотоэлектронный умножитель;
HOPG - High Oriented Pyrolitic Graphyte, высокоориентированный пиролитический графит;
LO - продольный оптический фонон;
ТО - поперечный оп тический фонон;
ЭМИ - электромагнитное излучение;
УФ - ультрафиолетовый;
SPR - Surface Plasmon Resonance, поверхностный плазмонный резонанс;
ПЗС - прибор с зарядовой связью;
LA - продольный акустический фонон;
ТА - поперечный акустический фонон; __ _ .
FWHM - Full Width at a Half Maximum, полная ширина на полувысоте;
ТПА - трансполиацетилен.

Также в-данном спектре виден пик при 46.75°, который соответствует N181 с ориентацией (1 21). При этом пик 47.09°, соответствующий N1281, не проявляется,в течение всего процесса термической обработки.
Данные для образца р-легированной, подложке кремния (1 1 0) методом РФА получены не были.
2.1.3 Структурные изменения в проводящих пленках силицидов никеля: спектроскопия микро-комбинационного рассеяния света
Спектр КР образца N181, используемого в качестве эталона, полученный при комнатной температуре, представлен на Рис. 2.5. Из литературы [22, 23] известно , что N181 принадлежит МпР-типу орторомбической структуры (пространственная группа Рпта, Б2ь). Это означает, что фононы пленки должны быть активны в комбинационном рассеянии первого порядка. Согласно теории групп, для N181 существуют 12 активных оптически фононов, каждый из которых может быть обнаружен в спектрах КР от монокристалла №81 при различных геометриях возбуждения/регистрации. Однако, спектры КР пленок, порошков и поликристаллов N181 могут содержать только некоторые из этих мод. Интенсивность мод в спектрах этих структур может быть различна и может меняться, например, от точки к точке на образце. В работе [22], при исследовании порошка N181, было зарегистрировано восемь фононных пиков с частотами на 197, 214, 255, 288, 314, 332, 360 и 397 см1. В спектре КР эталонного образца, представленном на Рис. 2.5, видны линии, центрированные-на_„ 197, 216, 256, 289, 314, 332 и. 362 см1, которые принадлежат N181. Согласно теории групп линии на 197, 216, 332 и 362 см’1 могут быть отнесены к фононным модам симметрии Ар, в то время как линии на 256 и 314 см'1 могут принадлежать фононам либо симметрии либо В3„ [22]. Остальные пять максимумов, ожидаемые из теории групп, в том числе