Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света
- Автор:
Ермаков, Виктор Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
113 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка оптических методов исследования объектов с дифракционным и субдифракционным пространственным разрешением | Парфенов, Петр Сергеевич | 2008 |
| Микроскопическая теория диэлектрической проницаемости неполярных жидкостей | Кечек, Александр Георгиевич | 1984 |
| Структура и электрооптические свойства одноосно-ориентированных пленок капсулированных полимером сегнетоэлектрических жидких кристаллов | Сморгон, Сергей Леонидович | 2002 |