Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света
- Автор:
Ермаков, Виктор Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
113 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка способов исследования слоистых структур монолитных интегральных приборов СВЧ на основе спектроскопии и эллипсометрии | Крючков, Юрий Иванович | 2001 |
| Оптическая дефазировка в примесных молекулярных неупорядоченных средах в широком интервале низких температур | Кольченко, Михаил Алексеевич | 2002 |
| Процессы разупорядочения в кристаллах органических соединений и их проявление в спектрах комбинационного рассеяния света | Сидоров, Николай Васильевич | 1985 |