Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света
- Автор:
Ермаков, Виктор Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
113 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Спектрально-кинетические исследования фотофизических процессов с участием молекул красителей и биомолекул в присутствии наночастиц серебра | Зюбин, Андрей Юрьевич | 2018 |
| Моделирование и исследование процессов в оптико-микроволновом модуляторе на основе резонансных структур | Запорожец, Денис Владимирович | 2006 |
| Голографическая интерферометрия и лазерная микроскопия эритроцитов | Метелкин, Александр Николаевич | 1980 |