Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
- Автор:
Казанцев, Дмитрий Всеволодович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
216 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Распространение электромагнитных волн в бианизотропных планарных и волоконных слоистых структурах | Иванов, Олег Витальевич | 2009 |
| Резонансное комбинационное рассеяние света в наноструктурах полупроводников халькогенидов кадмия и свинца | Черевков, Сергей Александрович | 2013 |
| Резонаторы, концентраторы и мультилинзы для рентгеновского и вакуумного ультрафиолетового излучения | Чуриков, Виктор Анатольевич | 2004 |