Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
- Автор:
Казанцев, Дмитрий Всеволодович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
216 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Теоретические основы методов диагностики корональной плазмы по рентгеновским спектрам многозарядных ионов | Урнов, Александр Михайлович | 2007 |
| Исследование тепловых и квантовых флуктуационных полей в нелинейно-оптических детекторах терагерцового излучения | Якунин, Павел Владимирович | 2013 |
| Сопряженность электрических и оптических характеристик в аэрозольной атмосфере | Овчаренко, Евгений Викторович | 2000 |