Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
- Автор:
Казанцев, Дмитрий Всеволодович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
216 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Спектры многократно ионизованных атомов изоэлектронной последовательности железа | Подобедова, Лариса Ивановна | 1984 |
| Исследование активных сред газоразрядных лазеров, работающих с резонансных на метастабильные уровни в парах щелочноземельных и редкоземельных металлов | Прокопьев, Владимир Егорович | 1984 |
| Формирования микрооптических поверхностей на основе фотоотверждения мономерных композиций в ближнем поле световой волны | Фокина, Мария Ивановна | 2012 |