Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
- Автор:
Казанцев, Дмитрий Всеволодович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
216 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP», автор — Казанцев, Дмитрий Всеволодович, относится к типу: докторская диссертация по специальности 01.04.05. Работа подготовлена в городе Москва в 2006 году. Объем работы: 216 с. : ил.. Внутренний код товара: 01003309176. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Спектроскопическое исследование ионизационных процессов в газоразрядной плазме в смесях гелия и аргона с молекулярными газами | Уткин, Юрий Геннадьевич | 2000 |
| Геометрооптический расчет поверхностей для формирования заданных двумерных распределений освещенности | Белоусов, Александр Александрович | 2008 |
| Разработка, исследование и применение широкополосного терагерцового спектрометра с поляризационно-оптической регистрацией на базе фемтосекундного волоконного лазера | Мамрашев, Александр Анатольевич | 2013 |