Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
- Автор:
Казанцев, Дмитрий Всеволодович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
216 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование колебательно-вращательных спектров дейтерозамещенных модификаций фосфина | Хабибулина, Оксана Леонидовна | 2003 |
| Исследование процессов возбуждения электронным ударом замкнутых оболочек атомов лития, натрия, магния и бария методом ультромягкой рентгеновской спектроскопии | Жменяк, Юрий Викентиевич | 1984 |
| Форма ИК-полос и вращательная релаксация простых молекул в газовой фазе | Филиппов, Николай Николаевич | 1998 |