Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP
- Автор:
Казанцев, Дмитрий Всеволодович
- Шифр специальности:
01.04.05
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2006
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
216 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Структурирование и самоорганизация нанокомпозитов в поле световой волны | Позднякова, Светлана Алексеевна | 2014 |
| Учет корреляционных поправок в расчетах оптических характеристик атомов и молекул | Сафонов, Владимир Иванович | 2000 |
| Нелинейная терагерцевая спектроскопия полупроводниковых сверхрешеток | Хвастунов, Николай Николаевич | 2010 |