+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Лазерное возбуждение неравновесных носителей в широкозонных диэлектриках

Лазерное возбуждение неравновесных носителей в широкозонных диэлектриках
  • Автор:

    Панов, Александр Александрович

  • Шифр специальности:

    01.04.04

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    1985

  • Место защиты:

    Москва

  • Количество страниц:

    172 c. : ил

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
"ГЛАВА I. Краткий обзор работ по фотопроводимости диэлектриков 
1.1. Ранние работы по фотопроводимости диэлектриков ц

ГЛАВА I. Краткий обзор работ по фотопроводимости диэлектриков

1.1. Ранние работы по фотопроводимости диэлектриков ц

1.2. Лазерная фотопроводимость диэлектриков

Вывода к главе I


ГЛАВА 2. Экспериментальная установка, условия и методика проведения экспериментов по лазерной фотопроводимости

2.1. Лазерная установка

2.2. Установка для измерений фотопроводимости

2.3. Методика измерений фотопроводимости

2.4. Исследуемые кристаллы

Вывода к главе


ГЛАВА 3, Экспериментальные результаты по лазерной фотопроводимости широкозонных диэлектриков
3.1. Фотопроводимость щелочно-галоидных кристаллов
на длине волны 0,27 мкм
3.2. Фотопроводимость щелочно-галоидных кристаллов
на длине волны 0,35 мкм
3.3. Фотопроводимость кристаллов ВДВ и ДКДР
3.4. Фотопроводимость кристаллов рубина и флюорита
Вывода к главе

ГЛАВА 4. Исследование эффекта фотоувлечения носителей и
нелинейного поглощения излучения в щелочно-галоидных кристаллах при УФ возбуждении
4.1. Эффект увлечения электронов фотонами в щелочногалоидных кристаллах
4.2. Нелинейное поглощение в щелочно-галоидных кристаллах лазерного излучения на длинах волн 0,35 мкм
и 0,27 мкм
Выводы к главе
ГЛАВА 5. Кинетическая модель фотопроводимости, наблюдаемой
в щелочно-галоидных кристаллах
5.1. Роль "мелких" ловушек в наблвдаемых явлениях лазерной фотопроводимости
5.2. Анализ явлений лазерной фотопроводимости при больших интенсивностях лазерного излучения
5.3. Роль дефектов в наблюдаемых явлениях лазерной
фотопроводимости
Выводы к главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА

В последнее время вызывают большой интерес явления, обусловленные взаимодействием мощного лазерного излучения с прозрачными твердыми телами. Значение этих явлений для фундаментальной физики твердого тела несомненно, благодаря их связи со многими проблемами, такими, как многофотонные переходы, процессы генерации и рекомбинации неравновесных носителей, образование радиационных дефектов.
С прикладной точки зрения этот интерес связан, в частности, с проблемой лазерного разрушения оптических материалов, используемых в качестве активных и пассивных элементов лазерных установок.
В ряде теоретических и экспериментальных работ последних лет (см., например, /1-7/) были выяснены основные механизмы, приводящие к пробою прозрачных твердых диэлектриков в поле интенсивной электромагнитной волны. Было показано, что в большинстве практически реализуемых случаев за разрушение ответственны поглощающие включения, однако, в наиболее чистых образцах разрушение может быть связано с электронными процессами: ударной и многофотокной ионизацией. Взаимодействие между процессами многофотонного поглощения энергии и механизмами лавинного разрушения в твердых телах обсуждалось, в частности, в работах /8-11/. В недавних работах /12-14/ лазерное разрушение вследствие ударной ионизации (электронной лавины) было экспериментально обнаружено в щелочно-галоидных кристаллах.
В связи с этим детальное исследование электронных процессов, обусловливающих лазерное разрушение и определяющих предельную стойкость оптических материалов к мощному лазерному излучению, представляется весьма актуальным. Сюда относятся
<5, Ом'<-см'<
Рис.3.1. Зависимость 6(3) для образца КС? в области малых интенсивностей; X = 0,27 мкм.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.142, запросов: 967