Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Автор:
Заблоцкий, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Долгопрудный
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование пористых многофункциональных пленок диоксида кремния, модифицированного углеродом | Усов, Сергей Петрович | 2011 |
| Изучение движения квантовых частиц в атомных структурах при помощи численного решения уравнения Шрёдингера | Савельев, Василий Иванович | 2007 |
| Развитие методов локальной катодолюминесценции прямозонных полупроводников | Степович, Михаил Адольфович | 1984 |