Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Автор:
Заблоцкий, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Долгопрудный
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Многократные процессы при столкновениях ионов с атомами и молекулами | Рябченко, Сергей Васильевич | 2006 |
| Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения | Чернышов, Дмитрий Юрьевич | 2019 |
| Влияние нестационарных и многочастичных эффектов на туннелирование электронов | Соколовский, Дмитрий Георгиевич | 1985 |