Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Автор:
Заблоцкий, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Долгопрудный
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Молекулярно-пучковая эпитаксия нитридов металлов для светодиодов ультрафиолетового диапазона | Борисов, Борис Александрович | 2008 |
| Локальная диагностика неоднородной плазмы с помощью автоматизированного спектрометрического комплекса | Екимов, Константин Анатольевич | 2004 |
| Влияние анизотропии, индуцируемой внешним полем в активной или поглощающей среде лазера, на характеристики генерируемого излучения | Калинов, Владимир Сергеевич | 1984 |