Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Автор:
Заблоцкий, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Долгопрудный
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование анизотропии фотодиссоциации щелочно-галоидных молекул методом суб-допплеровской поляризационной спектроскопии | Коровин, Константин Олегович | 2008 |
| Исследование синтезированных электронных пушек с криволинейными пучками в режиме ограничения тока пространственным зарядом | Солуянова, Елена Александровна | 1999 |
| Оптические наноматериалы и структуры на основе ионообменных стекол | Журихина, Валентина Владимировна | 2015 |