Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Автор:
Заблоцкий, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Долгопрудный
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Взаимодействие излучения УФ и видимого диапазонов с полимерными пленками : На примере азо и бинафтилсодержащих материалов | Плаксин, Вадим Юрьевич | 2000 |
| Эмиссия фотонов при взаимодействии электронов и ионов с поверхностью металлов | Поп, Степан Степанович | 1984 |
| Микроскопика поверхности проводящих кристаллов в сильном электрическом поле | Голубев, Олег Лазаревич | 1999 |