Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Автор:
Заблоцкий, Алексей Васильевич
- Шифр специальности:
01.04.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Долгопрудный
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии», автор — Заблоцкий, Алексей Васильевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.04. Работа подготовлена в городе Долгопрудный в 2009 году. Объем работы: 129 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004598075. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Поляризационная томография напряженного состояния в градиентно-оптических структурах | Каров, Дмитрий Дмитриевич | 2012 |
| Пробой коаксиального диода поперек магнитного поля и методы увеличения длительности импульса тока электронного пучка | Ким, Александр Андреевич | 1983 |
| Механизмы рассеяния электронов в наноструктурах на гетерогранице AlGaAs/GaAs | Цаххаев, Фалес Магомедович | 2000 |