Физические процессы на поверхности эмиссионно-активных систем

• Автор: Гнучев, Николай Михайлович
• Шифр специальности: 01.04.04
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2006
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 259 с. : ил.

Глава 1. ЭМИССИОННЫЕ И ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ДВОЙНЫХ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ СПЛАВОВ

1.1. Эмиссионные свойст ва сплавов

1.2. Фазовый состав двойных сплавов. Взаимосвязь эмиссионных свойств с количественным и фазовым составом сплавов

1.3. О природе эмитирующей поверхности сплавов.

Глава 2. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ.

2.1. Ионная бомбардировка сплавных эмиттеров

2.1.1. Экспериментальный прибор и установка.

2.1.2. Методика измерений.

2.2. Электронная оже-спектроскопия.

2.2.1. Основы метода.

2.2.2. Экспериментальная установка для регистрации оже-спектров в анализаторе с задерживающим полем и для определения работы выхода методом Андерсона.
2.2.3. Экспериментальные приборы и контрольные измерения
2.2.3.1. Экспериментальные приборы.
2.2.3.2. Контрольные измерения
2.2.4. Электронный оже-спектрометр 09-ИОС-10-004.
2.2.4.1. Определение коэффициентов элементной чувствительности.
2.2.5. Оже-спектрометр с угловым разрешением.
2.3. Методический комплекс для количественного анализа поверхности.
2.3.1. Физический принцип растрового метода измерения распределения работы выхода по поверхности образца.
2.3.2.Экспериментальная установка для анализа относительного распределения работы выхода и элементного состава поверхностей проводящих материалов.
2.3.3. Контрольные измерения.
2.3.4. Снятие кривых в отсутствие растра по поверхности мишени.
2.3.5. Разрешающая способность метода и влияние на нее различных факторов.
2.3.6. Выбор скорости записи кривых с1Б/с1(р.
2.3.7. Методика определения величины изменения рабош выхода мишени. Факторы, влияющие на положение кривой
с18/с1(р.
2.3.8. О создании шкалы абсолютных значений работы выхода в методе регистрации зависимостей с13/с1<р
Глава 3. ИССЛЕДОВАНИЕ ВЛИЯНИЯ ИОННОГО ОБЛУЧЕНИЯ НА ЭМИССИОННЫЕ СВОЙСТВА СПЛАВОВ.
3.1. Общие положения.
3.2. Влияние ионной бомбардировки на эмиссионные свойства сплава рения с торием.
3.3. Влияние ионного облучения на эмиссионные свойства сплава платины с барием.
3.4. Влияние ионной бомбардировки на эмиссионные свойства сплава палладия с барием.
3.5. Обсуждение результатов по ионному облучению сплавов.
Глава 4. ИССЛЕДОВАНИЕ АДСОРБЦИОННЫХ СИСТЕМ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОННОЙ ОЖЕ-СПЕКТРОСКОНИИ.
4.1. Оже-спектроскопия пленочных аналогов двойных сплавов.
4.1.1. Общие положения.
4.1.2. Исследование пленочных систем барий-металл
4.1.2.1. Система барий-вольфрам.
4.1.2.2. Пленочная система барий-платина.
4.1.2.3. Особенности оже-спектра при адсорбции Ва и ВаО на Мо (110).
4.1.2.4. Июги исследования пленочных систем барий-металл методом оже-спектроскопии.
4.1.3. Система церий-иридий.
4.2. Анализ адсорбционной системы № (110)-с(2х2)-8 методом электронной оже-спекгроскопии с угловым разрешением.
4.2.1. Общие положения.
4.2.2. Экспериментальные угловые зависимости оже-эмиссии.
4.2.3. Основные элементы теоретической модели и сравнение экспериментальных и теоретических данных.
4.2.4. Анизотропия эмиссии оже-электронов никеля.
4.2.5. Анизотропия эмиссии оже-электронов серы в структуре N1' (110)-с(2><2)-8.

2.3. Методический комплекс для количественною анализа поверхности.
Для широкого класса задач эмиссионной электроники, материаловедения и физики поверхности большой интерес представляет установление взаимосвязи между элементным составом поверхности шердого тела и ее работой выхода. Естественно, чю измерения при этом должны быть не ин-1егральными, а характеризовать локальные значения работы выхода и количественный элементный состав в данной области.
Сведения о значениях работы выхода в различных точках обраща и ее относиюльном распределении по поверхности можно получить, используя растровый электронно-лучевой метод [36,37]. Пространственное разрешение этого метода позволяет анализировать участки поверхности площадью 100 мкм2. Эффективным методом исследования количественного элементного состава поверхности, обеспечивающим ткое пространственное разрешение, является метод электронной оже-спекфоскопии.
С этой целью была создана экспериментальная установка, реализующая комплексную методику измерения в единых условиях относительного распределения работы выхода и элементного состава поверхности с помощью электронной оже-спектроскопии. Апробация методики на различных объектах исследования продемонстрировала высокую эффективность ее применения для широкого класса проводящих материалов. Немаловажно, что при этом имеется возможность установить однозначное соответствие исследуемых характеристик поверхности при воздействии на нее различных факторов.
2.3.1. Физический принцип растрового метода измерения распределения работы выхода по поверхности образца.
По своей сути этот метод является комбинацией метода Андерсона с растровой методикой.