Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
- Автор:
Свиташева, Светлана Николаевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
338 с. : 19 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Система зондово-оптической 3D корреляционной микроскопии и её применение в исследовании свойств наноматериалов | Залыгин, Антон Владленович | 2019 |
| Исследование процессов формирования специфических нитевидных кристаллов, предназначенных для микроэлектроники и приборостроения | Грызунова, Наталья Николаевна | 2008 |
| Дрейф-спектрометрия с селективной поверхностной ионизацией органических молекул | Богданов, Артем Сергеевич | 2007 |