Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
- Автор:
Свиташева, Светлана Николаевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
338 с. : 19 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Применение комплекса физических методов для исследования свойств кристаллов пироселенита и гидроселенита аммония | Наслузова, Ольга Ильинична | 2002 |
| Методы, приборы и результаты исследования метеорологических параметров атмосферы Венеры и Марса | Липатов, Александр Николаевич | 2008 |
| Методика восстановления энергетического распределения потока нейтронов с помощью нейронных сетей по откликам, получаемым от многослойного детектора нейтронов | То Тун Ко | 2010 |