Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
- Автор:
Свиташева, Светлана Николаевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
338 с. : 19 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов», автор — Свиташева, Светлана Николаевна, относится к типу: докторская диссертация по специальности 01.04.01. Работа подготовлена в городе Новосибирск в 2014 году. Объем работы: 338 с. : 19 ил.. Внутренний код товара: 01005098712. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка регистрирующей системы для детектора Т0 эксперимента ALICE (CERN, LHC) | Каракаш, Александр Иванович | 2006 |
| ЯМР исследование нитрозовулканизатов бутадиеннитрильных каучуков и растворов солей аммония | Кондрасенко, Александр Александрович | 2006 |
| Технология изготовления сверхпроводниковых болометров терагерцового диапазона частот | Кузьмин, Артем Александрович | 2011 |