Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
- Автор:
Свиташева, Светлана Николаевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
338 с. : 19 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Поляризация в реакции П-р-п0n при импульсе 40 ГэВ/с | Васильев, Александр Николаевич | 1984 |
| Изучение реакций 3He+p - p+p+d и 3He+p - p+p+p+n при импульсе ядер 3He 2,5 ГэВ/с с помощью жидководородной пузырьковой камеры диаметром 80 см. | Дробот, Василий Васильевич | 1985 |
| Физические процессы формирования сигнала и фона при использовании энергодисперсионных детекторов рентгеновского и гамма излучения | Портной, Александр Юрьевич | 2018 |