Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
- Автор:
Свиташева, Светлана Николаевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
338 с. : 19 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Корреляционные методы измерения скорости и температуры высокоскоростного воздушного потока и реагирующих смесей | Фирсов, Александр Александрович | 2011 |
| Электронные средства автоматизации криогенных установок в ядерно-физических экспериментах | Трофимов, Виктор Алексеевич | 2006 |
| Методы, приборы и результаты исследования метеорологических параметров атмосферы Венеры и Марса | Липатов, Александр Николаевич | 2008 |