Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов
- Автор:
Свиташева, Светлана Николаевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
338 с. : 19 ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и применение автоматизированных систем измерений, контроля и управления для исследований в области ядерной физики низких энергий | Виноградов, Юрий Иванович | 2005 |
| Разработка, развитие и внедрение технологических методов и средств для реализации космического эксперимента | Костенко, Валерий Иванович | 2002 |
| Разработка радиоволнового метода определения гидрофизических свойств почв | Ивченко, Олеся Анатольевна | 2007 |