Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Савин, Владислав Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии», автор — Савин, Владислав Олегович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2002 году. Объем работы: 126 с.. Внутренний код товара: 01002322652. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование микрофлюидных устройств с металлическими микро и наноразмерными функциональными элементами для изучения клеток | Букатин, Антон Сергеевич | 2013 |
| Анализ дефектов структуры полупроводников по рентгенотопографическим и поляризационно-оптическим розеткам контраста | Окунев, Алексей Олегович | 2008 |
| Методы диагностики структурных и дисперсионных свойств многослойных рентгеновских зеркал | Чхало, Николай Иванович | 2009 |