Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Савин, Владислав Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование несовершенств структуры и разработка нейтронных поляризующих суперзеркал CoFe(V)TiZr | Плешанов, Николай Константинович | 2007 |
| Системы управления и обработки сигналов в корреляционной и спектральной оптической когерентной томографии | Терпелов, Дмитрий Александрович | 2018 |
| Электрофизические свойства металлических нанопроводов, полученных методом селективного изменения атомного состава | Кутузов, Леонид Вячеславович | 2012 |