Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Савин, Владислав Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Интерференционно-поляризационные фильтры (ИПФ) для наблюдений Солнца и способы достижения их оптимальных характеристик | Кушталь, Галина Ивановна | 2013 |
| Разработка и создание многоканальных оптоэлектронных и радиочастотных систем управления и контроля сервисной аппаратуры ионных источников линейных ускорителей | Романов, Юрий Иванович | 1999 |
| Развитие инструментального метода контроля плутония и 241 Am в почве и его применение в районах мирных ядерных взрывов | Петрова, Екатерина Владимировна | 2000 |