Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Савин, Владислав Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Панорамный датчик с кодирующим коллиматором для обнаружения радиоактивных источников | Найнг Вин | 2007 |
| Система автоматизированной обработки данных эксперимента OPERA на комплексе ПАВИКОМ | Владимиров, Михаил Сергеевич | 2013 |
| Экспериментально-диагностический комплекс для физических исследований порошковых СВС-материалов при детонационном напылении | Яковлев, Владимир Иванович | 2003 |