Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Савин, Владислав Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии», автор — Савин, Владислав Олегович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2002 году. Объем работы: 126 с.. Внутренний код товара: 01002322652. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Анализ чувствительности лазерных гравитационных антенн с оптической жестокостью | Лазебный, Владимир Иванович | 2011 |
| Исследование характеристик кремниевых дрейфовых детекторов трековой системы для эксперимента ALICE | Кушпиль, Светлана Александровна | 2005 |
| Установка для регистрации нейтронной компоненты ШАЛ | Громушкин, Дмитрий Михайлович | 2014 |