Спектроскопия отраженных электронов и микротомография слоистых структур в растровой электронной микроскопии
- Автор:
Савин, Владислав Олегович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
126 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Физические основы управления свойствами материалов легированием в процессе СВ-синтеза | Глечиков, Сергей Владимирович | 1996 |
| Экспериментальный комплекс для исследования структурообразования в системе Ti-Al при самораспространяющемся высокотемпературном синтезе и детонационно-газовом напылении | Семенчина, Анна Сергеевна | 2006 |
| Холоэллипсометрия in situ слоистых структур: основы, методы и средства | Кирьянов, Анатолий Павлович | 2007 |