Измерение низкой альфа-активности материалов микроэлектроники : методика и оборудование
- Автор:
Манакова, Алёна Юрьевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
149 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и применение банка данных КАМАК для построения систем автоматизации физических экспериментов | Лукошков, Сергей Владимирович | 1984 |
| Исследование рождения D- °-мезонов в нейтрон-ядерных взаимодействиях на серпуховском ускорителе с помощью спектрометра БИС-2 | Арефьев, Валентин Александрович | 1999 |
| Разработка и исследование электрических и оптических характеристик фотодетекторов ультрафиолетового диапазона спектра на основе твердых растворов AlxGa1-xN | Курятков, Владимир Вениаминович | 2006 |