Измерение низкой альфа-активности материалов микроэлектроники : методика и оборудование
- Автор:
Манакова, Алёна Юрьевна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2009
- Место защиты:
Ижевск
- Количество страниц:
149 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Сверхвысоковакуумное термическое напыление мультислоев Fe/Si и изучение влияния условий роста на их химические, структурные и магнитные свойства | Варнаков, Сергей Николаевич | 2005 |
| Автоматизированные комплексы анализа тепловых изображений процессов горения и детонации энтропийными методами | Полторыхин, Максим Викторович | 2005 |
| Количественный анализ в спектроскопии потерь энергии отраженных электронов в кремнии и железо-кремниевых структурах | Александрова, Галина Алексеевна | 2008 |