Электронная сканирующая микроскопия и локальный рентгеноспектральный анализ для исследования химико-физических процессов в материалах, используемых в энергетике и аэрокосмической технике
- Автор:
Пшеченков, Павел Александрович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
149 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование углеродных наноструктур комбинированным методом атомно-силовой микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния | Щекин, Алексей Андреевич | 2011 |
| Цифровой метод n-Υ разделения в условиях сверхвысоких загрузок | Прокуронов, Михаил Васильевич | 2009 |
| Разработка регистрирующей системы для детектора Т0 эксперимента ALICE (CERN, LHC) | Каракаш, Александр Иванович | 2006 |