Развитие методов анализа структуры некристаллических и наноразмерных материалов с использованием синхротронного излучения
- Автор:
Велигжанин, Алексей Александрович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
134 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка методов оценки состояния и динамики лесов на основе данных спутниковых наблюдений | Барталев, Сергей Александрович | 2007 |
| Развитие метода эллипсометрии для исследования наноразмерных пленок диэлектриков, полупроводников и металлов | Свиташева, Светлана Николаевна | 2014 |
| Формирование оптического микрорельефа на диоксиде кремния в плазме газового разряда высоковольтного типа | Колпаков, Всеволод Анатольевич | 2004 |