Масс-спектрометр высокого разрешения с лазерно-плазменным источником ионов

• Автор: Борискин, Александр Иванович
• Шифр специальности: 01.04.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1983
• Место защиты: Сумы
• Количество страниц: 191 c. : ил

Глава I. Опыт создания и применения масс-спектрометров с лазерно-плазменным источником ионов

§ 1.1. Аналитические возможности применения лазерных

источников ионов в масс-спектрометрии

§ 1,2. Параметры плазмы, определяющие характеристики

масс-спектрометра с лазерно-плазменным источником

ионов

§ 1.3. Выбор ионно-оптической схемы масс-спектрометра с

лазерно-плазменным источником ионов

§ 1.4. Выводы

Глава II. Расчет и выбор параметров элементов ионно-оптической схемы масс-спектрографа с лазерно-плазменным

источником ионов

§ 2.1. Параметры ионно-оптической схемы масс-спектрографа с двойной фокусировкой
§ 2.2. Выбор параметров электростатического анализатора
§ 2.4, Расчет формирующей системы источника ионов
§ 2.5. Аналитическая система масс-спектрографа
§2.6. Выводы
Глава III Исследование процессов,влияющих на аналитические
характеристики масс-спектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов,...<
§3.1. Влияние преломления ионного пучка на границе
д- электрического поля электростатического анализатора

§ 3.2. Особенности юстировки масс-спектрографа с двойной
фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов 81 § 3.3. Оценка влияния объемного заряда ионного пучка в
аналитической части масс-спектрографа
§ 3.4. Влияние остаточного давления газа на аналитические
характеристики масс-спектрографа с двойной фокусировкой
§ 3.5. Экранирующее действие кратера при локальном и послойном анализе
§ З.б. Выводы
Глава IV. Аналитические возможности лазерного энергомасс-анализатора ЭММ-2 цри исследовании твердых
веществ
§4.1. Аппаратурные возможности прибора
§ 4.2. Аналитические характеристики энергомасс-анализатора
§ 4.3. Исследование сегрегации примесей в сварных швах '
§4.4. О возможности безэталонного количественного анализа многокомпонентной пробы
§ 4.5. Пути улучшения аналитических возможностей массспектрографа с двойной фокусировкой и лазерно-плазменным источником ионов
Заключение
Приложение I
Приложение II
Литература

Последние годы характеризуются повышенным интересом к анализу твердой фазы.Совершенствование методов и средств аналитического контроля является непременным условием развития новейших направлений материаловедения, физики твердого тела,, микроэлектроники, биологии, медицины, геологии, охраны окружающей среды и др. Среди методов элементного анализа веществ с различными физико-техническими свойствами масс-спектрометшя в сочетании с лазерноплазменными источниками ионов является самым молодым методом и имеет несомненные достоинства из-за своей универсальности и превосходных аналитических характеристик. В этой связи совершенствованию масс-спектрометрической методики исследования ионной компоненты лазерной плазмы с точки зрения повышения точности метода и его возможностей придается большое значение. Вопросам разработки аппаратуры для физических исследований и изучению процессов,
определяющих её аналитические характеристики посвящена настоящая работа, которая состоит из 4 глав, введения и заключения
В первой главе рассмотрены аналитические возможности применения лазерных источников ионов в масс-спектрометрии, проанализированы свойства плазмы, инициируемой сфокусированным лазерным излучением. Дан обзор работ, рассматривающих как аналитические применения лазерных источников ионов в масс-спектрометрии,-так и.совершенствование аппаратурной части физического эксперимента. Проанализированы возможности сочетания лазерно-плазменных источников ионов с различными ионно-оптическими схемами масс-спектрометров, проведен выбор ионно-оптической схемы масс-спектрометра высокого разрешения для исследования твердой фазы по ионному составу образующейся лазерной плазмы.
Во второй главе рассматриваются вопросы расчета парамет-

M mat
и 100 ZOO 500 400 500 а.е.м.

Максимальная напряженность магнитного поля в зазоре масс-анализатора, необходимая для регистрации максимальной массы иона.

SSS'
Эрст Hm
1,6 ю'
1,4 Ю"
1.Ц0*
10* -
illf ■
i 410
2 10 -
)/оЧ0кд
— 1/о-15кв
1, -.10 «Ь
j,z25*d
L-HQm м

Конструкция камеры магнитного масс-анализатора.