Рентгеновские дифракционные решетки на основе многослойных структур
- Автор:
Коваленко, Николай Владимирович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2005
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
156 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование нейтронной компоненты широких атмосферных ливней как новый метод изучения космических лучей сверхвысоких энергий | Стенькин, Юрий Васильевич | 2010 |
| Микроволновая микроскопия полупроводниковых структур | Королев, Сергей Александрович | 2018 |
| Программный комплекс для анализа данных трековых детекторов методами распознавания образов и его применение в физике высоких энергий, элементарных частиц и космических лучей | Старков, Николай Иванович | 2010 |