Приборы, методы и среды регистрации и обработки информации на основе бистабильных и промежуточных состояний

• Автор: Шустов, Михаил Анатольевич
• Шифр специальности: 01.04.01
• Научная степень: Докторская
• Год защиты: 2007
• Место защиты: Барнаул
• Количество страниц: 283 с. : ил.

Глава 1. Методы и среды регистрации излучений и полей различного происхождения. Методы исследования поверхности материалов. Датчики на основе неустойчивых физических и химических систем

1.1. Краткий обзор основных способов регистрации излучений и полей

1.2. Физико-химические методы исследования поверхности материалов

1.2.1. Химические (кристаллизационные) методы исследования поверхности твердых тел и поверхностных явлений
1.2.2. Физические методы исследования поверхности материалов с использованием газоразрядных процессов

1.3. Электронные датчики на основе неустойчивых физических и химических систем

1.4. Нелинейные элементы и системы

1.5. Полупроводниковые синтетические эквиваленты и аналоги негатронов Глава II. Экспериментальные методы и техника эксперимента. Методы обработки экспериментального материала

2.1. Приготовление образцов для исследований

2.2. Установка для изучения фотохимического и термического разложения твердых тел

2.3. Радиочастотный метод изучения кинетики фотолиза

2.4. Электрофизические методы исследований
2.4.1. Установка для измерения фотоэлектрических характеристик на постоянном токе
2.4.2. Установка для измерения сопротивления высокоомных полупроводников на переменном токе
2.5. Установка для исследования газоразрядных процессов
2.6. Метод сканирующей сверхвысокочастотной спектрометрии

2.7. Вычислительная техника и программное обеспечение для обработки
ф экспериментальной информации
2.8. Математическая и статистическая обработка результатов эксперимента
2.8.1. Статистический анализ. Программа статистической обработки данных
2.8.2. Применение регрессионного и корреляционного анализа
2.8.3. Применение коэффициента спектрального подобия для прогноза свойств объектов исследования
^ 2.9. Метод полного разложения. Определение квантового выхода фотолиза
Глава III. Теоретические основы процессов регистрации информации
3.1. Основные соотношения и взаимосвязи параметров регистрирующих сред
3.2. Кинетика топохимических реакций
3.3. Кинетика фотохимических превращений в слоях ГТМ
ф 3.4. Явление невзаимозаместимосли и уравнение изоопаки
3.5. Предельные характеристики средств регистрации информации
3.6. Разрешающая способность термопроявляемых материалов
3.7. Предельная энергетическая чувствительность неизотермических терморегистрирующих сред
3.8. Предельная энергетическая чувствительность изотермических термографических материалов
ф 3.9. Предельный коэффициент усиления и энергетическая чувствительность процессов с сухой усиливающей обработкой
3.10. Основные закономерности топохимических реакций
3.11. Определение вида кинетической кривой и установление давности со- 100 бытия методом трех точек
3.12. Упрощенный расчет абсолютного возраста минералов по данным радиологических определений
ф 3.13. Практические области применения регистрирующих сред на основе

Глава IV. Практическое применение физических и химических неустойчивых систем. Метод газоразрядной визуализации
4.1. Электрорадиографический метод исследования поверхности твердых 121 тел
4.2. Комбинированные методы. Кристаллотекстурная радиографическая 123 регистрация локальных неоднородностей физических полей
4.3. Регистрирующие материалы и среды для кристаллотекстурной радио- 124 графии
4.4. Методы и процессы радиографической регистрации
4.5. Исследование картин радиографического декорирования методом оптического сканирования
4.6. Применение деструктивной сканирующей радиографии для диагностики поверхностного слоя
4.7. Газоразрядная поличастотная диагностика поверхностного слоя материалов. Метод высших гармоник
4.8. Мультиячеистый газоразрядный визуаЛизатор излучений
4.9. Техническое оснащение газоразрядной фотографии
4.9.1. Источники высокого напряжения с использованием трансформаторов Тесла
4.9.2. Электрические процессы в высоковольтном источнике с резонансным трансформатором
4.9.3. Источники высокого напряжения по схеме Д'Арсонваля
4.10. Мостовые резонансные преобразователи напряжения
4.11. Преобразователи с умножением напряжения в первичной цепи
4.12. Мостовой ЬС-геиератор с ключевым управлением
4.13. Схемотехника аппаратов для газоразрядной фотографии
термоЭДС, датчика температуры, нуль-органа и исполнительного механизма I (нагревательного элемента). Скорость нагрева плавно регулировалась изменением угла отсечки управляющего напряжения тиристорного регулятора. Заданная температура поддерживалась в температурном интервале 20...280 °С с точностью не ниже 5°.
Измерительная ячейка позволяла производить намерения как при пониженном давлении (101 Па), так и на воздухе. Система вакуумирования состояла из ^ форвакуумного насоса ВН-461М, крана напуска воздуха, термопарного манометра ПМТ-2, вакуумметра ВТ-2Л и вакуумопровода.
Измерение спектров оптического поглощения производилось на спектрофотометрах СФ-10 и СФ-4А со спектральной областью регистрации 400...750 нм и
220... 1200 им, соответственно, и, в ряде случаев, на спектрофотометре БрекоЫ-І/У, а также на сканирующем микроспектрофотометре. Для анализа координат-* но-пространственного распределения оптических плотностей использовали
микрофотометр ИФО-451, планшетный сканер с оптическим разрешением до 600 ф/, 30 вит, а также оптические микроскопы.
Ряд экспериментов был произведен с применением масс-спектромеїри-ческой техники (масс-спектрометр МХ-1303; измеритель парциальных давлений омегатронный ИПДО-1).
В качестве источников излучения использовали ртутные лампы типа ДРТ-220, ДРШ-250, ксеноновые -ДКСШ-1000, а также лампы накаливания 60...500 Вт с регулировкой тока накала.
Интенсивност ь светового потока и энергетическая освещенность измерялась актинометрической схемой, состоящей из радиационного термостолбика и фотоэлектрического усилителя постоянного тока типа Ф18, Ф116.
Питание ламп ДРТ-220 осуществлялось от блока питания, изготовленного на базе феррорсзонансного стабилизатора С-0,75. Стабилизация напряжения и, соответственно, параметров источника света при измерении напряжения питающей сети производилась за счет разности ЭДС встречно включенных обмо-