Спектрометрия рентгеновского излучения с использованием многослойного цилиндрического зеркала

• Автор: Митрофанова, Юлия Львовна
• Шифр специальности: 01.04.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2008
• Место защиты: Саров
• Количество страниц: 123 с. : ил.

Список сокращений и условных обозначений
РИ [-] Рентгеновское излучение
М3 [-] Многослойное зеркало
ппд [-] Полупроводниковый детектор
ли [-] Лазерное излучение
Е [кэВ] Энергия квантов
X [нм] Длина волны РИ
СІ [нм] Период многослойного зеркала
В [-] Отношение толщин слоев элементов с большей и меньшей атомной массой в периоде многослойного зеркала
Е [Кл] Заряд электрона
ше [кг] Масса электрона
с [м-с1] Скорость света
є [-] Светосила
£о [Ф-м'1] Электрическая постоянная
0 [град] Угол скольжения излучения
к(0) [-] Коэффициент отражения от многослойного зеркала
0о [град] Угол скольжения излучения в центр зеркала
V [град] Угол падения излучения, 9О°
N3 [атом-м"3] Концентрация атомов
% [нм] Среднеквадратичная высота шероховатостей зеркала
N [-] Число слоев многослойного зеркала
Ь [см] Длина зеркала
Л [см] Радиус кривизны зеркала
Ьх [см] Расстояние от источника до зеркала
Ьё [см] Расстояние от зеркала до регистратора
V [-] Число степеней свободы распределения у2
сг [-] Стандартное отклонение
£ [см] Координата по приемнику РИ
с1еф Ь
Р(х)
ц(Е)
Аи(Е)

[ё] Зависимость почернения пленки от координаты по приемнику
[см] Высота зеркала
[квант/см2] Зависимость флюенса падающих квантов от почернения пленки
[-] Коэффициент поглощения РИ
[-] Функция поглощения РИ
[-] Нормировочный коэффициент, определяемый из показаний
полупроводниковых детекторов

Содержание
Введение
1. Теоретические основы спектрометрии рентгеновского излучения с использованием многослойных зеркал
2. Основные элементы и характеристики спектрографа
2.1. Многослойное зеркало
2.1.1. Обзорность спектрографа
2.1.2. Характеристики многослойного зеркала
2.1.3. Измерение центрального угла скольжения на зеркале
2.2. Поглотители рентгеновского излучения
2.3. Алгоритмы расчета основных характеристик спектрографа
2.3.1. Алгоритм расчета кривых качания многослойного зеркала
2.3.2. Алгоритм расчета светосилы спектрографа
2.3.3. Расчет аппаратной функции
2.4. Расчет зависимости энергии регистрируемых квантов от
координаты на пленке
2.5. Рентгеновская пленка УФ
2.6. Выводы по главе
3. Обработка экспериментальных данных
3.1. Обработка спектрограмм
3.2. Абсолютная привязка энергетической шкалы спектрографа

Расстояние г от источника до зеркала в выражении (2.3) можно определить как длину вектора ц:
г=(х-х,)2+(у-у1)2+(г-г1/ =-1(К-сор)-х,)2 +(К-зр)~у,)2 +(г-г1)2 (2.6). Подставив выражение (2.5) и (2.6) в (2.4), получим:
, _ Г гг ал(<р)-у, т{))
~ 4111 (*'-«(*, *»,(«,))«/ +Сг-г,/Г '
Расчет светосилы по выражению (2.7) проводился методом Монте-Карло для вычисления многомерных интегралов [42].
Для расчета светосилы прибора была написана программа, позволяющая рассчитывать светосилу прибора для источников в виде шара, цилиндра и параллелепипеда. Алгоритм расчета светосилы и его программная реализация подробно описаны в работе [41].
Светосила прибора была рассчитана для реальных постановок измерений на установке ИСКРА-5 Ьх=73.6 см и Ъх=128.2 см для большой и малой камеры соответственно, Ьб=9.7 см. Результаты расчетов приведены на рис. 2.15.
Энергия квантов, кэВ
Рисунок 2.15 - Расчетная светосила прибора