Синтез контролепригодных объектов по технико-экономическим показателям

• Автор: Сидорова, Елена Владимировна
• Шифр специальности: 05.13.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1998
• Место защиты: Нижний Новгород
• Количество страниц: 175 с. : ил.

С ОДЕРЖАНИЕ
Введение
1. Обзор существующих методов обеспечения контролепригодности и
диагностирования непрерывных объектов
2. Эквивалентность дефектов и ее разрешение
2.1 Классы эквивалентности на множестве дефектов
2.2 Получение минимального множества контрольных точек для локализации однократных дефектов
2.3 Получение минимального множества дополнительных контрольных точек для локализации многократных дефектов
2.4 Локализация дефекта произвольной кратности
2.5 Выводы
3. Синтез контролепригодных объектов по экономическим показателям
3.1 Математическая модель стоимости системы в зависимости от глубины диагностирования
3.2 Связь глубины диагностирования с общими затратами на разработку, производство и эксплуатацию систем
3.3 Минимизация суммарных затрат на заданном числе точек контроля
3.4 Минимизация суммарных затрат при ограничении на стоимость реализации точек контроля
3.5 Минимизация множеств точек контроля, обеспечивающих заданное значение суммарных затрат
3.6 Выводы
4. Практическая реализация результатов работы
4.1 Краткая характеристика системы
4.2 Описание работы системы
4.3 Выбор диагностических параметров для обеспечения различимости дефектов СННГТБ
4.4 Выводы
5. Заключение
6. Список литературы
Приложение
Приложение
Приложение

ВВЕДЕНИЕ
Известно, что область применения сложных систем все более
расширяется. Создание и использование все большего количества
технических объектов, выполняющих ответственные функции, выдвигают серьезную проблему обеспечения на стадиях проектирования, изготовления и эксплуатации показателей, характеризующих способность объекта выполнять заданные функции. Особая роль в этом принадлежит технической диагностике, т.к. техническое состояние систем может эффективно определяться только по результатам технического диагностирования.
Однако непрерывный рост сложности технических устройств приводит к необходимости создания новых подходов к решению задач контроля и диагностики, дальнейшей разработке математического аппарата,
автоматизации создания диагностического обеспечения, эффективность которого зависит от контролепригодности технических средств [1]. Направленное преобразование структуры объекта диагностирования на стадии проектирования позволяет не только повысить показатели надежности, но и сократить затраты на обслуживание и ремонт при его эксплуатации.
При рассмотрении проблемы контролепригодности следует в известной мере различать случаи, когда максимальная различимость дефектов является жизненно необходимым требованием к изделиям, несоблюдение которого недопустимо, и случаи, когда одноразличимость дефектов нужна и желательна, хотя это требование не является абсолютным.

{щ,ц2
вспомогательной матрицы Ж. Отсюда вытекает эквивалентность указанных дефектов.
Следствие I
Два однократных дефекта (р}и {у} эквивалентны на имеющемся множестве контрольных точек Ъ тогда и только тогда, когда во вспомогательной матрице Р совпадают строки с номерами ц и V, то есть
Г=Г. (2.4)
Следствие I есть фактически частный случай утверждения 2.1 при к=1= 1.
Понятие эквивалентных дефектов и результат утверждения 2.1 позволяют установить на множестве дефектов некоторое бинарное отношение. Так как это отношение удовлетворяет свойствам транзитивности, симметричности и рефлексивности отношений, оно является отношением эквивалентности. Следовательно, введенное отношение однозначно разбивает множество дефектов на непересекающиеся классы эквивалентности. При этом в одном классе совпадают только те дефекты, которые нельзя отличить друг от друга на имеющемся множестве контрольных точек Ъ. Для локализации дефекта произвольной кратности необходимо и достаточно дополнить множество контрольных точек Ъ так, чтобы сделать каждый класс эквивалентности одноэлементным, и чтобы множество контрольных точек, получающееся после такого дополнения, было минимальным. Очевидно, установив отношение эквивалентности на множестве дефектов произвольной кратности, тем самым установим такое же отношение и на множестве однократных дефектов. При этом классы эквивалентности однократных дефектов являются подклассами классов эквивалентных дефектов произвольной кратности.