+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Разработка методов и интегрированной системы анализа рентгеновских дифракционных данных многофазных материалов для промышленных целей

  • Автор:

    Якимов, Игорь Степанович

  • Шифр специальности:

    05.02.01

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    2000

  • Место защиты:

    Красноярск

  • Количество страниц:

    198 с. : ил

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы

СОДЕРЖАНИЕ
Введение
1. Методы рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа 5 поликристаллов
1.1. Предварительная обработка дифракционных спектров
1.2. Рентгенофазовая идентификация
1.3. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов
1.4. Количественный рентгенофазовый анализ
1.5. Банки рентгенофазовых и кристаллоструктурных данных
1.6. Интегрированные системы обработки дифракционных данных
1.7. Требования к интегрированной системе анализа 50 дифракционных данных для промышленных целей
2. Разработка методического и математического обеспечения 53 анализа рентгеновских дифракционных данных
2.1. Состав и организация интегрированной системы обработки 53 дифракционных данных многофазных материалов
2.2. Автоматизированная предварительная обработка рентгеновских 63 дифракционных спектров
2.3. Идентификация фазового состава
2.3.1. Язык запросов фазовой идентификации
2.3.2. Критерии фазовой идентификации
2.3.3. Стратегии фазовой идентификации
2.4. Полнопрофильный анализ поликристаллов
2.5. Программно-методическое обеспечение автоматизированного 91 количественного рентгенофазового анализа
2.5.1. Метод обратной калибровки
2.5.2. Калибровочная и измерительные процедуры
3. Изучение соединений и промышленных продуктов металлов 97 платиновой группы
3.1. Изучение кристаллической структуры и изомеризации диамино- 98 дихлор-палладия (II)
3.2. Изучение цис-форм [РНзСЩ
3.3. Изучение кристаллической структуры (1ЧН4)2Ка[Ме(Ж)2)6], 105 Ме=Іг,Юі, и Ігаш- [Рсі(МНЗ )2(Ж)2 )2]
3.4. Изучение кристаллической структуры (МНЗ)2[Рс1(С204)2]*2Н20 107 и №2[Р<1(С204)2]*2Н20
3.5. Подготовка рентгенофазовых эталонов соединений для 109 дифрактометрического контроля продуктов
4. Оперативный дифрактометрический контроль состава
промышленных алюминиевых электролитов
4.1. Постановка задачи оперативного рентгенофазового контроля
4.1.1. Электролит как физико-химическая среда процесса электролиза 112 и как твердофазная фторидно-оксидная система
4.1.2. Влияние состава электролита на характеристики электролиза
4.1.3. Методы контроля состава электролита
4.1.4. Производственно-технологические требования к системе 131 оперативного контроля состава электролита
4.1.5. Метод рентгенофазового контроля состава электролита
4.2. Изучение особенностей фазового состава по представительной
выборке проб промышленных электролитов
4.2.1. Методика изучения и контроля фазового состава
4.2.2. Изучение фазового состава по представительной выборке проб
4.2.3. Определение интервалов совместной кристаллизации фаз
4.3. Изучение рентгенометрических особенностей фазового состава 144 электролита и выбор аналитических линий фаз
4.3.1. Рентгенометрические характеристики фазовых эталонов
4.3.2. Рентгенометрические характеристики фаз в электролите
4.3.3. Влияние пробоотбора
4.4. Изучение электролита методом Ритвельда
4.5. Подготовка набора калибровочных стандартных образцов
5. Разработка методики выполнения измерений и внедрение
системы днфрактометрического контроля состава электролита
5.1. Настройка и работа с системой
5.1.1. Настройка вычислительной процедуры
5.1.2. Калибровочная и измерительные программы
5.1.3. Процедура калибровки по стандартным образцам
5.1.4. Процедура измерения состава электролита
5.2. Опытная эксплуатация
5.2.1. Схема опытной эксплуатации
5.2.2. Результаты опытной эксплуатации
5.3. Метрологические характеристики метода
5.3.1. Оценка случайной составляющей
5.3.2. Оценка систематической составляющей
5.3.3. Оценка общей погрешности измерений
5.3.4. Оперативный контроль погрешности измерений
5.4. Обсуждение результатов и рекомендации по внедрению
Выводы
Литература
Приложения:
а) Акт о полученном экономическом эффекте от внедрения системы днфрактометрического контроля состава электролита на ОАО КрАЗ
б) Акт внедрения интегрированной системы днфрактометрического контроля состава электролита на ОАО АЗ ОКСА
в) Акт внедрения интегрированной системы на ОАО КЗЦМ
г) Акт внедрения интегрированной системы на ОАО ЕЗОЦМ

Первый отечественной реализацией метода Ритвельда является работа [111, 113]. Рассмотрим более подробно метод Ритвельда на примере ее модернизации ( с участием автора) в [112].
Абсолютную интегральную интенсивность монохроматического рентгеновского излучения, дифрагированного от плоского однофазного образца в дифрактометре с фокусировкой по Брэггу-Бретано можно представить в виде:
lHKL = k* тг * n * LPG * /Fhkl /2 *Т * A(G) * g (37)
2 * ц * Ч
где К - постоянная, зависящая от физических констант и условий съемки, р-линейный коэффициент поглощения,
V-объем элементарной ячейки,
LPG-Лоренц-поляризационный и геометрический факторы,
А-угловой фактор поглощения,
Т-общнй тепловой фактор,
F-структурный фактор, g-фактор текстурируемости.
fhkl = Ел * fj * 1е~2*л"(нЕт+Ку+1га), t (3g)

Где j,m-суммирование no атомам, соответственно, независимой и зависимой части ячейки;
р-коэффициент заполнения кристаллографической позиции; fj-атомный фактор рассеяния; х,у,г-координаты атома в долях ячейки;
Н,К,Ь-кристаллографические индексы;
tjm - анизотропный тепловой фактор атома j позиции m (или изотропный tj). -2*B*sin2
Т = е (39)

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.129, запросов: 967