Исследование вирусов и антивирусных препаратов методами атомной силовой и просвечивающей электронной микроскопии

Исследование вирусов и антивирусных препаратов методами атомной силовой и просвечивающей электронной микроскопии

Автор: Мацко, Надежда Борисовна

Шифр специальности: 03.00.02

Научная степень: Кандидатская

Год защиты: 2001

Место защиты: Москва

Количество страниц: 117 с.

Артикул: 2283161

Автор: Мацко, Надежда Борисовна

Стоимость: 250 руб.

Исследование вирусов и антивирусных препаратов методами атомной силовой и просвечивающей электронной микроскопии  Исследование вирусов и антивирусных препаратов методами атомной силовой и просвечивающей электронной микроскопии 



Исследования проводились на малоизвестном бактериофаге i К i, который обладает очень редким строением капсида, а именно имеет внутренний белковый стержень, который, как предполагается, играет ключевую роль в упаковке геномной ДНК. В качестве тест объекта был использован хорошо изученный бактериофаг Т4 ii i. В настоящее время ведутся широкомасштабные исследования механизмов клеточной адгезии прикрепление вирусной частицы к мембране клеткихозяина различных вирусов, поиск их клеточных рецепторов, а также эффективных ингибиторов адгезии, позволяющих предотвратить инфицирование клетки, которые, в перспективе, могут использоваться для профилактики и лечения вирусных заболеваний. Рецепторами для полиомавирусов, ротавирусов, орто и парам иксовирусов, вирусов иммунодефицита человека и некоторых других вирусов являются фрагменты углеводных цепей гликопротеинов и гликолипидов, находящихся в составе клеточных мембран 3. Созданные в лаборатории Химии углеводов ИБХ РАН мультивалентные гликоконъюгаты являются эффективными ингибиторами клеточной адгезии вируса гриппа. Изучение с помощью АСМ строения, морфологии и антивирусных свойств синтезированных гликоконъюгатов позволит осуществить последовательную оптимизацию структуры мультивалентного ингибитора, ведущую к повышению его противовирусной активности. П.1. Принцип функционирования АСМ относительно прост. Микроскоп сканирует поверхность образца при помощи острой иглы, длина которой равна паре микрон, а диаметр часто ниже 0 ангстрем. Игла располагается на свободном конце треугольной микробалки кантеливера, покрытой хорошо отражающим материалом чаще золотом. Длина кантеливера составляет от 0 до 0 микрон. Силы, возникающие между иглой и поверхностью образца, вызывают изгиб или отклонение кантеливера. Детектор измеряет степень отклонения кантеливера по смещению отраженного от его поверхности лазерного луча, по мере того, как игла проходит над образцом или по мере перемещения образца под иглой. На основании данных о отклонении кантеливера, компьютер может составить карту топографии поверхности См. Рис. РИСУНОК 1. АСМ могут использоваться для изучения диэлектриков и полуповодников, также как и проводящих материалов. Отклонение кантеливера АСМ происходит, обычно, под влиянием нескольких сил. Сила, которая больше других ассоциируется с атомной силовой микроскопией, представляет собой межатомную силу, получившую название вандерваал ьсовой силы. Зависимость вандерваал ьсовой силы от расстояния между иглой и образцом показана на Рис. Два дистанционных режима отмечены на рисунке контактный режим и 2 неконтактный режим. РИСУНОК 2. В контактном режиме кантеливер поддерживается на расстоянии менее нескольких ангстремов от поверхности образца и межатомная сила, действующая между кантел ивером и образцом является силой отталкивания. В режиме контактной АСМ, известном так же как отталкивающий режим, игла АСМ входит в мягкий физический контакт с образцом. Игла крепится к концу кантеливера, имеющего низкую пружинную жесткость ниже фактической пружинной константы силы, удерживающей атомы образца вместе. По мере того, как сканер плавно ведет иглу через образец или образец под иглой, контактная сила вызывает изгиб кантеливера в соответствии с изменениями в топорафии. Для получения более подробного представления об имеющих место явлениях следует обратиться к вандерваальсовой кривой на Рис. С правой стороны кривой атомы отделены один от другого большими расстояниями. По мере того, как атомы постепенно приближаются один к другому, они первоначально слабо притягиваются. Эта сила притяжения возрастает до тех пор, пока атомы не окажутся настолько близко друг от друга, что их электронные облака не начнут отталкиваться под воздействием электростатических сил. Это электростатическое отталкивание постепенно ослабляет силу притяжения по мере того, как разделяющее атомы расстояние продолжает уменьшаться. Сила падает до нулевого значения в тот момент, когда расстояние между атомами достигает нескольких ангстремов, т. В тот момент, когда величина вандерваальсовой силы станет положительной отталкивающей, атомы входят в контакт. Наклон вандерваальсовой кривой очень крутой в отталкивающем или контактном режиме.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

28.06.2016

+ 100 бесплатных диссертаций

Дорогие друзья, в раздел "Бесплатные диссертации" добавлено 100 новых диссертаций. Желаем новых научных ...

15.02.2015

Добавлено 41611 диссертаций РГБ

В каталог сайта http://new-disser.ru добавлено новые диссертации РГБ 2013-2014 года. Желаем новых научных ...


Все новости

Время генерации: 0.234, запросов: 145