Фотоэлектронная спектроскопия в исследовании катализа на металлах

Фотоэлектронная спектроскопия в исследовании катализа на металлах

Автор: Боронин, Андрей Иванович

Шифр специальности: 02.00.15

Научная степень: Докторская

Год защиты: 2002

Место защиты: Новосибирск

Количество страниц: 337 с. ил

Артикул: 2285385

Автор: Боронин, Андрей Иванович

Стоимость: 250 руб.

Фотоэлектронная спектроскопия в исследовании катализа на металлах  Фотоэлектронная спектроскопия в исследовании катализа на металлах 



Другой эффект обусловлен релаксационными процессами, связанными с перестройкой электронных состояний валентных электронов атома, происходящей к ходе эмиссии фотоэлектрона внутриатомная и экстра атомная релаксации, или эффект конечного состояния 6. Таким образом, действительное происхождение наблюдаемых сдвигов энергии связи может быть различным. Детально проблема химедвигов с учетом начальных и конечных состояний будет нами анализироваться в следующей главе в применении к нанесенным на носители высоколисперснмм металлическим катализаторам. Еще одним эффективным инструментом изучения химического состояния элементов на поверхности образца является использование т. Удобство применения Оже параметра связано с тем, что он не зависит от подзарядки поверхности образца и его химические сдвиги больше по величине, чем сдвиги РФЭС или Оже линий. Значения а обычно представлены в виде двухмерных карт в координатах Есп К и Еки . Данные по Оже параметрам различных соединений, имеющиеся в литературе, не обладают полнотой соответствующих подборок значений энергии связи фотоэлектронных линий, тем не менее, двухмерные карты для самых распространенных элементов представлены в 8,,. Чувствительность к поверхностным слоям. Третьим фундаментальным свойством фотоэлектронной спектроскопии рис. Вообще говоря, ЭТО НС только свойство фотоэлектронной спектроскопии, а свойство диагностики электронными пучкам любого происхождения, в том числе, полученного при воздействии рентгеновскими квантами. Глубина анализа в методе РФЭС определяется длиной свободного пробега электронов X ,,. В свою очередь X зависит, в основном, от кинетической энергии эмиттированного электрона, и, в меньшей степени, от природы материала образца 8,. Так называемая универсальная кривая, полученная интерполяцией экспериментально измеренных данных для множества элементов приведена на рис. Л, при возбуждении обычно применяющимися первичными излучениями А1Ка и . Количественный анализ. Четвертым свойством фотоэлектронной спектроскопии является ее применение для количественных расчетов. Т . Рис. Средняя длина свободного пробега электронов в зависимости от их кинетической энергии по данным . Трансмиссионный фактор Г для полусферических анализаторов при работе их в режиме постоянного пропускания пропорционален i1. IIIiii 1. При использовании этой формулы сечения берутся, как правило, из работы Скофилда . Для рутинных измерений обычно используется упрощенная процедура количественной обработки спектральных данных, когда из соотношения интенсивностей экспериментально полученных соответствующих РФЭС пиков, выводится атомное соотношение анализируемых элементов IIx 1. При этом предполагается, что количественные характеристики интегралы под спектральной кривой или высоты в максимуме пика фотоэлектронных пиков, относящихся к двум элементам А и , пропорциональны атомным концентрациям этих элементов с точностью до постоянного коэффициента i iivi , который определяется выражением см. Величины определены эмпирически практически для всех стабильных элементов, когда используется наиболее широко применяемый режим записи спектров САЕ, т. Для большинства аналитических применений получаемой таким образом информации вполне достаточно, однако, следует иметь в виду, что по разным причинам, точность количественных измерений методом РФЭС составляет . Правда, в последнее время опубликовано несколько работ, авторы которых утверждают, что при корректном выборе и проведении процедуры вычета фона с учетом анизотропии выхода фотоэлектронов , а также с введением поправки на рассеяние в слое адсорбата , точность определения атомных концентраций можно повысить до 5 6 . Подробно различные аспекты количественного анализа методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии излагаются в монографиях ,4,8,,. Развитие метода фотоэлектронной спектроскопии в исследовании процессов адсорбции и катализа на массивных металлах. В данной части работы будут рассмотрены специфика и возможности применения метода РФЭС к исследованию поверхности массивных металлических катализаторов. Для решения поставленных задач метод ФЭС является, наиболее универсальным.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

28.06.2016

+ 100 бесплатных диссертаций

Дорогие друзья, в раздел "Бесплатные диссертации" добавлено 100 новых диссертаций. Желаем новых научных ...

15.02.2015

Добавлено 41611 диссертаций РГБ

В каталог сайта http://new-disser.ru добавлено новые диссертации РГБ 2013-2014 года. Желаем новых научных ...


Все новости

Время генерации: 0.246, запросов: 121