Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков

Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков

Автор: Романенко, Сергей Владимирович

Шифр специальности: 02.00.02

Научная степень: Докторская

Год защиты: 2006

Место защиты: Томск

Количество страниц: 442 с. ил.

Артикул: 3313678

Автор: Романенко, Сергей Владимирович

Стоимость: 250 руб.

Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков  Феноменологическое моделирование аналитических сигналов в форме пиков 

Оглавление
Оглавление.
Введение.
Глава I. Комплектная характеристика свойств аналитических пиков
1.1. Одномерные сигналы в аналитической химии.
1.1.1. Виды сигналов в аналитической химии
1.1.2. Аналитический сигнал в виде пика.
1.2. Хемометрические подходы к характеристике аналитических сигналов в виде пика
1.3. Характеристика свойств аналитического сигнала в виде пика
с помощью статистических моментов
1.4. Контурный способ характеристики свойств аналитического сигнала в виде пика.
1.5. Каркасный способ характеристики свойств аналитических пиков
1.6. Систематическое сравнение способа статистических моментов, контурного и каркасного способов характеристики свойств аналитических пиков.
1.6.1. Группы аналогичных параметров выраженных в рамках
различных подходов.
1.6.2. Влияния дискретизации аналитического сигнала на
погрешность вычисления параметров пика.
1.6.3. Сравнение параметров симметричных пиков
1.6.4. Сравнение параметров несимметричных пиков
1.6.5. Исследование влияния шума на параметры различных
способов характеристики свойств пиков
1.6.6. Устойчивость параметров контурного, каркасного способов и способа характеристики свойств пиков
статистическими моментами при криволинейном учете базовой линии с помощью сплайнфункции дробной степени.
1.6.7. Устойчивость параметров каркасного, контурного способов и способа, использующего статистические моменты распределения, характеристики свойств пиков
для ИВпиков ряда элементов.
1.6.8. Исследование поведения параметров аналитического пика в зависимости от содержания определяемого компонента в анализируемом растворе
1.7. Заключение по главе I.
Глава II. Система построения феноменологических моделей аналитических сигналов в виде пика.
2.1. Моделирование аналитических сигналов в виде пика
2.2. Базовые элементарные функции пиков.
2.2.1. Нормированный пик
2.2.2. Элементарные пики
2.3. Универсальные модификации симметричных пиков.
2.3.1. Общие принципы.
2.3.2. Примеры модификации пиков. Одиночные модификации.
2.3.3. Примеры модификации пиков. Двойные модификации
2.4. Комбинирование функций.
2.4.1. Аддитивное комбинирование пиков
2.4.2. Мультипликативное комбинирование пиков.
2.5. Принципы конструирования пиков.
2.5.1. Произведение двух монотонных функций
возрастающей и убывающей.
2.5.2. Функция обратная образной кривой
2.6. Методика феноменологического моделирования поведения аналитических сигналов с изменяющейся формой
2.7. Связь феноменологических и физикохимических моделей аналитических сигналов в инверсионной вольтамперометрии.
2.7.1. Физикохимическая модель обратимого анодного и катодного электродных процессов на ртутнопленочном электроде
2.7.2. Феноменологическая модель двух встречных логист
2.7.3. Взаимосвязь между параметрами физикохимической и феноменологической моделями
2.8. Заключение по главе II
Глава III. Развитие способов обработки информации на базе феноменологического моделирования аналитических пиков.
Алгоритмы и методики.
3.1. Оценка искажений формы аналитических пиков при сглаживании
3.1.1. Влияние сглаживания на параметры аналитического сигнала.
3.2. Дифференцирование как средство повышения чувствительности.
3.3. Влияние дифференцирования на линейность градуировочных характеристик.
3.4. Компенсация погрешности различных способов измерения аналитических пиков
3.4.1. Методика нестатистической оценки систематической погрешности измерения величины аналитического сигнала.
3.4.2. Оценка систематической погрешности при прямолинейном учете базовой линии.
3.4.3. Оценка систематической погрешности метода стандартных добавок при прямолинейном учете базовой линии.
3.5. Определение формы аналитических пиков
3.5.1. Определение формы аналитического пика в случае его искажения базовой линией иили пиком близлежащего компонента
3.5.2. Исследование аддитивности аналитического сигнала с помощью разностных кривых.
3.6. Учет базовой линии.
3.7. Разрешение перекрывающихся сигналов
3.7.1. Метод подгонки кривых
3.7.2. Метод деления сигналов i i i
3.7.3. Прямое измерение перекрывающихся пиков различными способами
3.8. Заключение но главе III
Глава IV. Применение феноменологических моделей аналитических сигналов в форме пика в аналитической химии.
4.1. Анализ формы групп реальных аналитических пиков
4.1.1. Инверсионная вольтамперометрия.
4.1.2. Хроматография
4.1.3. Рентгенофлюоресцентный спектральный анализ
4.2. Моделирование групп реальных аналитических пиков
4.2.1. Моделирование реальных ИВ, хроматографических и
РФСпиков
4.3. Причины искажения формы аналитических пиков в инверсионной вольтамперометрии при ступенчатой
развертке потенциала
4.4. Особенности аналитических сигналов в вольтамперометрии
с использованием твердых и модифицированных электродов
4.5. Способ характеристики формы аналитических пиков с помощью характерных точек на разностных кривых
4.5.1. Общие представления об инкрементах
4.5.2. Изучение поведения инкрементов на примере серий
пиков таллия
4.6. Оценка общей погрешности в инверсионной вольтамперометрии при различных способах обработки аналитических сигналов
4.7. Оценка систематической погрешности в инверсионной вольтамперометрии при различных способах обработки аналитических сигналов
4.8. Компенсации систематической погрешности учета базовой линии на примере определения свинца, меди и висмута методом инверсионной вольтамперометрии
4.9. Оценка и компенсация систематической погрешности, вносимой на этапах измерения и обработки аналитических сигналов ртути
4.9.1. Регистрация ИВпиков ртути
4.9.2. Оценка систематической погрешности учета базовой линии при определении ртути методом ИВ на модифицированных углеродных электродах
4.9.3. Построение поправочной характеристики для компенсации систематической погрешности при
определении ртути с целью повышения точности
анализа
4Разрешение перекрывающихся пиков в ИВ
. Метод подгонки кривых
. Измерение перекрывающихся ИВпиков каркасным способом
Заключение
Основные результаты и выводы
Список литературы


В случае несовпадения этих параметров для отдельных ветвей можно сказать, что пик является несимметричным по форме в области вершины или основания и целесообразно ввести специальный параметр, характеризующий эту несимметричность формы. Для количественной характеристики несимметричности формы пика предлагается использовать два параметра 5У и 5 табл. И . Если мы имеем дело с пиком, имеющим достаточно сложную форму рис. Выражения взаимосвязи этих параметров приведены в табл. Связь выражений для свойств пика с характеристическими точками на контуре пика см. Всего имеем набор из пяти взаимонезависимых параметров формы плюс три общих параметра высота, ширина, положение. Например, , v, V , т. Г, взаимозаменяемы можно использовать либо то либо другое. Таблица . Для отдельных ветвей v 1 0. Хвостатость дополнительная 1 0 0. Уровни 0. Однако в соответствие с контурным подходом для характеристики формы пика в тех или иных случаях можно выбирать любой удобный уровень, а не только 0. Особенно важен правильный выбор уровня при характеристике формы пика в области основания. Это связано с большим влиянием погрешности учета базовой линии на форму хвостов пика. Выбор уровня 0. Для многих же хроматографических методов можно использовать более низкий уровень например 0. Представленная совокупность параметров является достаточной для описания пика практически любой формы. Если у модели имеется достаточное число параметров, связанных с этими параметрами формы, то данная модель будет обладать значительной универсальностью. Альтернативным подходом к характеристике свойств пика является каркасный способ. Свойства пика можно охарактеризовать с помощью каркаса, образованного касательными, построенными в точках перегиба обеих ветвей пика, и их асимптотой. На рис. Рис. В каркасном способе характеристики свойств пиков все параметры, так или иначе, связанны с каркасом, образованном касательными в точках перегиба ветвей пика и асимптотой ветвей. Так в качестве основных параметров
размера пика выступают высота каркаса А это масштаб по оси ординат
и ширина основания каркаса Ж масштаб по оси абсцисс. Параметром положения пика является абсцисса пересечения касательных х. Шляпка у символов Л указывают на параметры, связанные с каркасом. Высота безразмерного пика не будет равна 1, а будет . Положение максимума пика рт. А Вх. Тогда уравнение касательной к точке перегиба на ветви пика в безразмерных координатах примет вид
При вычислении параметров каркаса сначала необходимо определить координаты точек перегиба х и у. Гх 0. Затем определяем соответствующие ординаты точек перегиба и наклоны в точках перегиба. Лх. В коэффициент наклона в уравнении касательной к точке перегиба ветви пика, определяется как значение первой про
изводной функции пика при абсциссе В х. В таблице представлены общие формулы для расчета параметров каркаса пика исходя из значе
ний размерных х, у и В. Так как пик в общем случае несимметричный, то для различия левой ветви с отрицательными значениями абсциссы и правой ветви с положительными значениями абсциссы используются нижние индексы и соответственно. Таблица . Расчетные формулы для основных параметров треугольного каркаса некоторого несимметричного ника. Геометрический смысл параметров пояснен на рис. Расчетные А П а у В. Лреак А IV
А высота каркаса значение ординаты пересечения касательных к точкам перегиба ветвей пика. IV ширина основания каркаса. У безразмерная ордината точки максимума пика. Координаты точки максимума пика в размерных координатах хтут. В рамках каркасного способа можно достаточно детально количественно охарактеризовать форму пика. Для этого вводятся пять взаимонезависимых параметров параметры несимметричности . У и хвостатости и или и Все параметры формы безразмерные величины. Связь выражений для свойств пика с параметрами каркаса приведена в табл. Таблица . Для сравнения различных способов характеристики свойств аналитических пиков были выделены группы аналогичных параметров пика, представленных разными способами. Площадь под пиком этот параметр является параметром общего размера пика, т. Параметры характеризующие форму вершины пика островершинность
А
3. Параметры характеризующие форму основания пика хвостатость
А
4.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

28.06.2016

+ 100 бесплатных диссертаций

Дорогие друзья, в раздел "Бесплатные диссертации" добавлено 100 новых диссертаций. Желаем новых научных ...

15.02.2015

Добавлено 41611 диссертаций РГБ

В каталог сайта http://new-disser.ru добавлено новые диссертации РГБ 2013-2014 года. Желаем новых научных ...


Все новости

Время генерации: 0.200, запросов: 121