Элементы помехоустойчивого кодирования нециклического типа субмикронных КМОП оперативных запоминающих устройств

• Автор: Петров, Константин Александрович
• Шифр специальности: 05.13.05
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2015
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 103 с. : ил.

Оглавление
Оглавление
Список терминов, условных обозначений и сокращений
Введение
Глава 1. Сравнительный анализ кодер-декодеров, исправляющих однократные ошибки, применяемых для повышения сбоеустойчивости оперативных запоминающих устройств
1.1. Обзор основных методов помехоустойчивого кодирования для ОЗУ
1.2. Алгоритмические и схемотехнические особенности кодов и кодер-декодеров
1.3. Моделирование и синтез декодеров
1.4. Тестовая структура ОЗУ 39Кх39 по нормам проектирования 0,25 мкм КМОП КНИ с кодер-декодером Хсяо (39, 32)
1.5. Разработка кодер-декодеров для ОЗУ КЭШ-памяти второго уровня микропроцессора
Выводы
Глава 2. Снижение аппаратурных затрат и повышение быстродействия декодера Хсяо
2.1. Алгоритмические и схемотехнические особенности кодов и кодер-декодеров
2.2. Сравнение вариантов декодеров Хсяо с минимизированными по
составу элементами
Выводы
Глава 3. ОЗУ с кодер-декодерами, исправляющими двукратные смежные ошибки
3.1. Особенности применения помехоустойчивых кодов для исправления двукратных смежных ошибок
3.2. Оптимизация БЕС-ОАЕС кодов по критерию помехоустойчивости

3.3. Моделирование и сравнительный анализ кодер-декодеров БЕС-ПЛЕС
кодов
Выводы
Глава 4. Повышение устойчивости подсистемы динамической памяти микропроцессора к временному функциональному отказу одной из СБИС ДОЗУ
4.1. Технология СШРКПХ
4.2. Методы с использованием помехоустойчивых кодов, исправляющих смежные ошибки
4.3. Сравнительный анализ методов повышения устойчивости к
временному функциональному отказу одной из СБИС ДОЗУ
Выводы
Глава 5. Снижение числа служебных запросов в сбоеустойчивых ДОЗУ с функцией перезаписи данных
5.1. Разработка устройства регенерации данных в ДОЗУ с элементами помехоустойчивого кодирования
5.2. Поведенческое моделирование подсистемы динамической памяти .
Выводы
Заключение
Список использованной литературы

Список терминов, условных обозначений и сокращений
Список сокращений
DAEC double adjacent error correction;
DED double error detection;
SEC single error correction;
SnEC single n-bit error correction;
БИС большая интегральная схема;
БЧХ код Боуза-Чоудхури-Хоквингема
ДОЗУ динамическое оперативное запоминающее устройство;
ЗУ запоминающее устройство;
ИИ ионизирующее излучение;
ис интегральная схема;
КМОП комплементарная структура металл-окисел-полупроводник;
кии структура кремний на изоляторе;
МОП структура металл-окисел-полупроводник;
МП микропроцессор;
ОЗУ оперативное запоминающее устройство;
ОС одиночный сбой;
ояч отдельная ядерная частица;
ПЗУ постоянное запоминающее устройство;
плис программируемая логическая интегральная схема;
по программное обеспечение;
СБИС сверхбольшая интегральная схема;
снк система на кристалле;
СОЗУ статическое оперативное запоминающее устройство;
ТЗЧ тяжелая заряженная частица;
тэ тиристорный эффект;
ЭВМ электронно-вычислительная машина.

Рис. 1.12. Топология ОЗУ с повышенной сбоеустойчивостью к воздействию отдельных ядерных частиц емкостью 8КХ39 разработанная по технологии 0,25 КНИ, с кодером и декодером Хсяо (39, 32)
Рис. 1.13. Схема включения блоков кодирования и декодирования в кэш-памяти второго уровня