Разработка методик многофакторного анализа технологических измерений и проектирования параметров технологической линии при производстве ракетно-космической техники

• Автор: Шишкин, Андрей Юрьевич
• Шифр специальности: 05.11.15
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2007
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 112 с. : ил.

Глава 1. Анализ существующих решений оптимизационных задач измерений
технологических параметров, их особенности и недостаточность на современном
производстве ракетно-космической техники (РКТ).
1.1. Анализ особенностей метрологического обеспечения производства ракетно-космической техники в современных условиях.- - Q
1.2. Анализ существующих решений оптимизационных задач измерений технологических параметров, их особенности и недостаточность на современном производстве ракетно-космической техники - 2
Глава2. Определяющая роль влияющих факторов на превышение дисперсии результатов измерений над дисперсией технологических отклонений на современном производстве РКТ.
2.1. Исследование данных измерительной информации на производствах с различными отношениями технологических отклонений к допускам. - - 2
2.2. Анализ проблемы негативного воздействия влияющих факторов на высокую дисперсию результатов измерений технологических параметров и пути ее решения. - LIQ
ГлаваЗ. Методика многофакторного анализа технологических измерений
3.1.Анализ факторов, влияющих на результаты технологических измерений и оптимизация условий их выполнения. - 4
3.2. Описание методики многофакторного анализа
Глава 4. Методика проектирования параметров технологической линии.
4.1.Сущность проектирования параметров технологической линии. - 7"
4.2. Статистически планируемый эксперимент как метод проектирования параметров технологической линии. - 8
Заключение. - £$
Приложение.
Библиографический список.

1 Актуальность исследования.
В последние годы производство ракетно-космической техники стало оснащаться современным технологическим оборудованием, позволяющим производить изделия, имеющие высокостабильные выходные характеристики. Уровень технологических отклонений в этом случае составляет 4,5 - 5 Сигм по отношению к допускам. Напомню, что в случае 5 Сигм на миллион идентичных технологических операций приходится лишь 233 операции с выходом параметра из установленных допусков [6;7]. Это весьма высокий показатель технологической точности и стабильности.
Однако метрологическое обеспечение и система измерений, сложившиеся в отрасли к этому времени, оказались недостаточными для эффективной работы в этих условиях, прежде всего в силу несоответствия точности результатов измерений высокой точности выполнения технологических операций. В последние годы в ракетно-космической отрасли явно обозначилась ситуация, когда измерения параметра изделия, производимого на высокоточном оборудовании, вследствие высокой дисперсии результатов измерений по сравнению с фактической дисперсией технологических отклонений параметра, нарушают действительную картину значений параметра и, например, в случае измерительного контроля приводит к неверным выводам контролера о пригодности изделия по контролируемому параметру, а в случае измерений внутри технологической линии приводит к большому разбросу выходного параметра изделия и, как следствие, высокому проценту брака.
Попытки модернизации метрологического обеспечения путем внедрения новых методик выполнения измерений (МВИ), предполагающих применение более точных средств измерений, потребовали значительного увеличения стоимости измерительных операций. И все равно не удалось достичь стабильности результатов измерений, соответствующей высокой стабильности выполнения технологической операции вследствие воздействия на результаты
Определяем дисперсию результатов измерений в у-и серии, которая является мерой внутрисерийного рассеяния и характеризует случайные погрешности внутри серии у:
пу 1
где У - - результат г'" измерения в / - г/ серии
У. - среднее значение результатов измерений в у - й серии и определяется

Яу (
Очевидно, характеристикой совокупности случайных внутрисерийных погрешностей будет усредненная по сериям дисперсия
а,с=41>у (з)
о У
Представим выражение для IX из формулы (1) в формулу (3) и получим выражение для средней дисперсии по сериям в виде
(4)
(3 у=1 п j 1 м
Отметим, что среднюю внутрисерийную дисперсию Овс характеризуют случайные погрешности измерений, так как все влияющие факторы нами зафиксированы (напоминаю, постоянен внутри каждой серии, а остальные факторы Р2... /у.... Рк постоянны по условию формирования усеченной базы данных результатов измерений по фактору
С другой стороны, рассеяние средних У, различных серий определяется
помимо случайных погрешностей измерений еще и систематическими различиями, вызванными фактором между результатами измерений, сгруппированными по сериям.
Следовательно, рассчитав межсерийную дисперсию Омс, как меру систематических различий между результатами измерений, сгруппированными