Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО
Ларионов, Николай Петрович
05.11.13
Кандидатская
2002
Казань
178 с. : ил
Стоимость:
499 руб.
ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
Г ЛАВА 1. Методы контроля формы асферических поверхностей крупногабаритных оптических элементов.
Принципы расчета и методы изготовление осевых синтезированных голограмм
1.1. Крупногабаритные оптические элементы в разрабатываемых
оптических телескопах: требования, выдвигаемые разработчиками телескопов к их параметрам
1.2. Методы контроля формы асферических поверхностей крупногабаритных оптических элементов
1.2.1. Метод Гартмана и его модификации
1.2.2. Методы на основе использования решеток
1.2.3. Интерферометры сдвига
1.2.4. Интерферометр с рассеивающей пластинкой
1.2.5. Метод анаберрационных точек
1.2.6. Компенсационный метод
1.2.6.1. Компенсаторы на основе использования линзовых и зеркальных элементов
1.2.6.2. Схемы контроля асферических поверхностей на основе использования голограммных компенсаторов
1.3. Принципы расчета и методы изготовления осевых синтезированных голограмм
1.4. Выводы
ГЛАВА 2. Оптические схемы контроля асферических поверхностей
крупногабаритных и светосильных оптических элементов на основе использования осевых синтезированных голограмм
2.1. Схемы контроля вогнутых асферических поверхностей
2.1.1. Схема для производственного контроля вогнутых асферических поверхностей с автоколлимационным ходом лучей
2.1.1.1. Описание принципиальной схемы контроля. Уравнение синтезированной голограммы
2.1.1.2. Расчет частотной характеристики синтезированной голограммы; выбор отрезков схемы
2.1.1.3. Диапазон контролируемых поверхностей АП; особенности
схемы контроля
2.1.2. Схема для производственного контроля вогнутых асферических поверхностей с неавтоколлимационным ходом лучей
2.1.2.1. Описание принципиальной схемы контроля. Уравнение синтезированной голограммы
2.1.2.2. Расчет частотной характеристики синтезированной голограммы; выбор отрезков схемы
2.1.2.3. Диапазон контролируемых поверхностей АП; особенности
схемы контроля
2.1.3. Схема с повышенной чувствительностью для аттестационного контроля вогнутых асферических поверхностей
2.1.3.1. Описание принципиальной схемы контроля. Уравнение синтезированной голограммы
2.1.3.2. Расчет частотной характеристики голограммы; выбор отрезков схем и диаметра горлограммы
2.2. Схемы контроля выпуклых асферических поверхностей с большими световыми диаметрами
2.2.1. Схема контроля выпуклых асферических поверхностей на основе использования осевой синтезированной голограммы и вспомогательного сферического зеркала
2.2.1.1. Описание принципиальной схемы контроля.
Уравнение голограммы
2.2.1.2. Расчет параметров вспомогательной сферы и отрезков
схемы
2.2.2. Схема контроля выпуклых асферических поверхностей с обращением волнового фронта
2.2.2.1. Описание схемы
2.2.2.2. Диапазон контролируемых поверхностей
2.2.3. Схема для производственного контроля выпуклых асферических поверхностей с автоколлимационным ходом лучей
2.2.4. Схема с повышенной чувствительностью для контроля выпуклых асферических и плоских поверхностей на стадии их аттестации на основе использования синтезированной голограммы
и концентрического мениска
2.2.4.1. Описание схемы. Уравнение синтезированной голограммы
2.2.5. Выводы
ГЛАВА 3. Методы расчета допусков на параметры схем контроля и определения семейства асферических поверхностей, контролируемых одной и той же синтезированной голограммой. Методика юстировки схем контроля
3.1. Определение уравнения прогнозируемой асферической поверхности при отклонении параметров схемы контроля
3.1.1. Установление взаимнооднозначного соответствия между точ-
ками исходной и прогнозируемой поверхностями при отклонении параметров в схеме контроля вогнутых поверхностей с неавтоколлимационным ходом лучей
3.1.1.1. Отклонение отрезка а'
3.1.1.2. Отклонение отрезка <
3.1.1.3. Отклонение отрезка а]
3.1.1.4. Отклонение отрезка й]
Рис. 1.7. Структура синтезированной голограммы.
Название работы | Автор | Дата защиты |
---|---|---|
Разработка и исследование амплитудных волоконно-оптических датчиков давления | Бялик, Александр Давидович | 2009 |
Математические модели, программно-аппаратные и технологические средства для контроля и классификации изображений наноструктур в туннельном микроскопе | Липанов, Святослав Иванович | 2017 |
Метод и средства двухпараметрового резонансного контроля влажности материалов | Шведов, Сергей Николаевич | 2010 |