Лазерно-индуцированные процессы модификации оптических свойств полиметилметакрилата, допированного антраценоилацетонатом дифторида бора

• Автор: Жижченко, Алексей Юрьевич
• Шифр специальности: 01.04.21
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2015
• Место защиты: Владивосток
• Количество страниц: 148 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ
Введение
Глава 1. Влияние лазерного излучения на оптические свойства объёмных образцов полиметилметакрилата, допированного антраценоилацетонатом дифторида бора (Ап1ВР2)
1.1. Лазерно-индуцированная модуляция оптических параметров полиметилметакрилата, допированного АпЙЗЕг
1.2. Частотно-контрастная характеристика полиметилметакрилата, допированного АщВЕг
1.3. Диффузионные механизмы оптимизации оптических свойств полиметилметакрилата, допированного АгПВЕ2 при записи фазовых голографических решёток
1.4. Выводы к главе
Глава 2. Модификация оптических свойств волноводных плёнок на основе допированного Ап1ВГ2 полиметилметакрилата под действием лазерного излучения
2.1. Методика формирования планарных волноводов на основе плёнок полиметилметакрилата, допированного АЩВЕ
2.2. Лазерная запись решеточных интегрально-оптических элементов в плёнках полиметилметакрилата, допированного АЩВЕг
2.3. Лазерно-индуцированное формирование полосковых волноводов в плёнках полиметилметакрилата, допированного АпИЗЕг
2.4. Выводы к главе
Глава 3. Нелинейно-оптические свойства объёмных образцов полиметилметакрилата, допированного антраценоилацетонатом дифторида бора в поле лазерного излучения
3.1. Формирование динамических неоднородностей показателя преломления в полиметилметакрилате, допированном АпШР2 в поле низкоинтенсивного лазерного излучения
3.2. Лазерно-индуцированная динамическая фазовая модуляция излучения в
полиметилметакрилате, допированном AntBF
3.3. Двухфотонная модификация AntBF2 в полиметилметакрилате под действием фемтосекундного лазерного излучения
3.4. Выводы к главе
Заключение
Список литературы
Список сокращений
хсп - халькогенидные стеклообразные полупроводники
ДОЭ - дифракционный оптический элемент
ПММА - полиметилметакрилат
ММА - метилметакрилат
АгйВБг - антраценоилацетонат дифторида бора
ОіАїйВРг - фотодимер антраценоилацетоната дифторида бора
ПП - показатель преломления
КП — коэффициент поглощения
ЧКХ - частотно-контрастная характеристика
ГР - голографическая решётка
АСМ - атомно-силовой микроскоп
создавать рельеф на поверхности материала, который может служить основой для дифракционно-оптических элементов (ДОЭ).
Следствием уменьшения коэффициента поглощения на длине волны Хм При экспонировании, является увеличение глубины проникновения (/х„) модифицирующего излучения внутрь исследуемого материала. На врезке рисунка 1.46 представлены, соответствующие дозе экспозиции 50 и 900 Дж/см2, фотографии люминесценции исследуемого образца под действием модифицирующего излучения. На рисунке 1.46 представлена измеренная по сигналу люминесценции зависимость глубины проникновения модифицирующего излучения по уровню е2 от времени экспозиции образца ПММА+АЩВР2. Из этих данных видно, что при дозе экспозиции меньше 50 Дж/см2 модифицирующее излучение не воздействует на слои фоторегистрирующего материала, находящиеся на глубине больше чем 0.4 мм. При рекомендуемой дозе экспозиции Ех0 ~ 2x103 Дж/см2 глубина
проникновения приближается к Ьопт ~ 1.1 мм. Таким образом, эти данные с одной стороны указывают на возможность управления эффективной толщиной записываемых в исследуемом материале оптических элементов, а с другой они говорят об ограничении (~ 2 мм) оптической толщины таких элементов. Глубина проникновения считывающего в фазовом режиме излучения оказывается значительно больше и согласно спектрам поглощения составляет 25 мм и 40 мм для длин волн 532 и 633 нм соответственно.
При исследовании зависимости а(Ех) для длин волн 532 и 632.8 нм в
схеме установки, показанной на рис. 1.3, используются соответствующие
источники считывающего излучения (2) и (3). При помощи зеркал (4), (6) и
светоделительного кубика (8) их излучение направляется на экспонированную
область образца (11). После этого при помощи призмы (12) происходит
разделение прошедшего через образец пучка (П) на пучки (П2) и (П3) с длинами
волн 532 и 632.8 нм, и детектирование их фотоприёмниками (14) и (15). На
рис. 1.4а показаны измеренные таким образом зависимости коэффициента