Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО
Терентьев, Вадим Станиславович
01.04.05
Кандидатская
2008
Новосибирск
135 с. : ил.
Стоимость:
499 руб.
Глава 1. Физические основы многолучевых отражательных
дифракционных интерферометров
§1. Теория многолучевых отражательных дифракционных интерферометров
1.1. Расчет параметров дифракционного зеркала
1.2. Формулы аппаратной функции в отражении и пропускании и характеристики дифракционного интерферометра
1.3. Методы численного расчета
§2. Технология изготовления
§3. Методы измерения характеристик отражательных
многолучевых интерферометров и его элементов
3.1. Установка для измерения параметров интерферометра
3.2. Метод измерения фазы Ами диэлектрических зеркал [52]
Глава 2. Трансмиссионный отражательный интерферометр на основе дифракционного зеркала с металлической решёткой [53, 57]
§4. Расчёт характеристик дифракционного интерферометра с металлической решёткой
§5. Изготовление и исследование характеристик элементов дифракционного интерферометра
§6. Экспериментальная реализация дифракционного интерферометра с металлической решёткой
Глава 3. Трансмиссионный отражательный интерферометр на основе дифракционного зеркала с фазовой решёткой [54, 58]
§7. Расчёт характеристик интерферометра с фазовой
решёткой
§8. Экспериментальное исследование свойств интерферометра с фазовой решёткой
Глава 4. Отражательные интерферометры со специальными характеристиками [55, 56, 59]
§9. Спектральные характеристики трехзеркальной интерференционной системы с «необращенной» аппаратной функцией в отраженном свете [55]
§10. Управление спектральной зависимостью выходного сигнала отражательного интерферометра с необращенной аппаратной функцией [56]
§11. Волоконный вариант отражательного интерферометра [59]
Заключение
Приложения
Библиографический список литературы
Глоссарий
О дифракционная решетка, структура
Бт.г обрамляющие среды
п коэффициент преломления
М^г.з зеркала интерферометра
р, т соответственно амплитудные коэффициенты отражения и
пропускания ОМ диэлектрический многослойник
1_ геометрический размер, расстояние между зеркалами
а, Ь размеры областей «а», «Ь»
X длина волны света
Ж характеристическая матрица, матрица интерференции
среды
£, “К индексы сред соответственно с низким и высоким значением показателя преломления К Т соответственно энергетические коэффициент отражения и
пропускания х, у, 2 пространственные координаты
Е вектор напряженности электромагнитного поля
ю0 полуширина гауссова пучка
Ох геометрический размер зеркала вдоль оси х
бх период дифракционной структуры
эа, эь доли площадей
N число элементов дифракционной структуры
м коэффициент пропорциональности пучка
д геометрический фактор
А амплитуда дифракционных коэффициентов
у угол дифракции
Рисунок 10. Расчетные зависимости коэффициентов отражения и пропускания ОИ от набега фазы между зеркалами
(а)
(Ь)
Рисунок 11. Схемы лазерного измерения ФПА диэлектрических зеркал.
Название работы | Автор | Дата защиты |
---|---|---|
Резонаторы, концентраторы и мультилинзы для рентгеновского и вакуумного ультрафиолетового излучения | Чуриков, Виктор Анатольевич | 2004 |
Метод адиабатического описания интерференции состояний многоуровневых квантовых систем в резонансных полях излучения | Шахмуратов, Рустэм Назимович | 2009 |
Комптоновское рассеяние фотона атомом и атомным ионом | Арепьева, Ольга Александровна | 2013 |