+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Электронная сканирующая микроскопия и локальный рентгеноспектральный анализ для исследования химико-физических процессов в материалах, используемых в энергетике и аэрокосмической технике

  • Автор:

    Пшеченков, Павел Александрович

  • Шифр специальности:

    01.04.01

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    2007

  • Место защиты:

    Москва

  • Количество страниц:

    149 с. : ил.

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы

Аннотация.
Работа посвящена модернизации устаревших приборов для сканирующей электронной микроскопии и локального рентгеноспектрального анализа, столь необходимых для многих областей науки и техники. Описан разработанный автором оригинальный аппаратно-программный комплекс для управления сканирующим электронным микроскопом, благодаря которому устаревший прибор“СатеЬах МВХ-1” приближается по возможностям к современным микроскопам этого класса. Выполненная работа позволила значительно повысить производительность имеющегося в ИНЭПХФ РАН прибора «СатеЬах МВХ-1». На данном приборе автором был проведен целый ряд исследовательских работ в области энергетики, космического материаловедения, нанотехнологий и других важных научных направлений разрабатываемых в ИНЭПХФ РАН. Для проведения этих исследований автором были разработаны соответствующие методики, которые также приведены в настоящей диссертации.

1. Введение
2. Литературный обзор.
2. 1 Основные принципы СЭМ и ЛРСА.
2. 2 Сканирующий микроскоп -локальный рентгеноспектральный анализатор «СашеЬах-МВХ-1».
2. 3 Устройство сканирующего электронного микроскопа, назначение его узлов и их функционирование.
2. 4 Спектрометры рентгеновского излучения с волновой дисперсией
2. 5 Современный уровень развития СЭМ и ЛРСА.
3. Разработка сопряжения сканирующего микроскопа- микроанализатора с 1ВМ-совместимыми персональными компьютерами.
3. 1 Программы управления и сбора данных СашеЬах

3. 2 Дополнительное программное обеспечение для обработки полученных результатов.
4 Применение модернизированного микроскопа для исследования металла энергетического оборудования.
4. 1 Применение рентгенофазового и элементного анализа для контроля соблюдения водного режима
4. 2 Исследование изменения состава металла в приповерхностном слое котельных труб из стали Х18Н12Т в процессе длительной эксплуатации
4. 3 Исследование сульфидной коррозии котельных
труб.

Фрактографические исследования котельных труб. Исследование причин и механизма повреждения полого проводника стержня обмотки статора генератора блока 800 МВт Рязанской ГРЭС Исследования излома направляющих лопаток диафрагмы 28-й ступени РСД турбины К-300-240 ЛМЗ ст.№ 2 Рязанской ГРЭС с целью установления причины и механизма их разрушения.
Выводы по главе 4.
Применение СЭМ и ЛРСА для исследования структуры высокоэнергоемких материалов. Исследования алюминизированного взрывчатого нанокомпозита.
Изучение элементного и фазового состава твердых продуктов взрыва экспериментальных зарядов. Выводы по главе 5.
Исследование методами СЭМ и ЛРСА образцов авиакосмических материалов в течении длительного времени экспонированных в условиях низкой околоземной орбиты (НОО) на орбитальных станциях (ОС) «Мир» и «МКС».
Исследования фрагментов солнечных батарей с орбитальной станции «МИР»,
Исследования влияния факторов космического пространства на материалы экрановакуумной теплоизоляции.
Обсуждение результатов
Выводы
Заключение
Литература

Пункт меню «Средства». Позволяет использовать некоторые средства обработки информации и настройки интерфейса.
1) Тестирование - позволяет тестировать плату сопряжения. Используется при начальной настройке и отладке.
2) Корректировка увеличения - позволяет изменять значения увеличения и соответственно длину микрон-маркера при точной калибровке прибора с использованием тест-обьекта.
Средства Сохранить изображение Счетчик импульсов
Т вотирование
Корректировка увеличения
ХБ1АУ цвет
| Цвет линии сканирования ►! Черный
Подпись под рисунком Белый
Показать увеличение ✓ Зеленый
Вести дневник Красный
Усреднение по кадрам
Повторное определение времени задержки
Тонкая регулировка ЦАП - АЦП
Контроль интерфейса
лчоу
Рис. 3.12.Пункт меню «средства».
3) ХЯАУ цвет - Позволяет получать цветные изображения в рентгеновском излучении.
4) Цвет линии сканирования - Позволяет изменять цвет линии сканирования накладываемой на изображение.
5) Подпись под рисунком - Дает возможность делать любые подписи (длиной до 40 знаков) под изображением. При сохранении изображения с подписью, наложенной линией сканирования и микрон-маркером следует применять пункт меню «сохранить изображение с надпечаткой».
6) Показать увеличение - Кроме микрон-маркера выводит на экран значение текущего увеличения в цифровом виде при размерах полученного отпечатка 10X10 см.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.167, запросов: 967