Установка для атомно-эмиссионного анализа и методика обработки спектров

• Автор: Внукова, Наталья Григорьевна
• Шифр специальности: 01.04.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2003
• Место защиты: Красноярск
• Количество страниц: 98 с. : ил.

ОГЛАВЛЕНИЕ

Введение
Глава 1. Метод атомно-эмиссионной спектроскопии и возможность его применения для анализа элементного состава вещества в углеродной матрице
1.1. Методы исследования элементного состава вещества
1.2. Современные источники света и устройства для подачи пробы в разрядный промежуток в атомно-эмиссионном спектральном анализе
• 1.2.1. Источник света на основе графитовой дуги
1.2.2. Источники света на основе индукционно связанной плазмы
1.2.3. Источник света на основе разряда килогерцового диапазона
частот
1.2.4. Сравнительные характеристики современных источников света
1.3. Способы подачи анализируемого вещества в аналитическую зону разряда..
1.3.1. Способы подачи жидких проб
1.3.2. Устройства для подачи жидких проб
1.3.3. Способы подачи твердых проб
1.3.4. Устройства для подачи твердых проб
1.4. Способы регистрации спектра
1.4.1. Фотографическая регистрация
1.4.2. Фотоэлектрическая регистрация
1..4.3. Регистрация с помощью фотодиодных линеек
Глава 2. Установка с источником света на основе разряда килогерцового диапазона частот и ее характеристики
2.1. Описание установки для атомно-эмиссионного спектрального анализа
2.2. Электрическая схема возбуждения
2.3. Описание конструкции центрального электрода со съемной вставкой
2.3.1. Конструкция центрального электрода, разработанного для атомноэмиссионного анализа вещества в жидком виде
2.3.2. Конструкция центрального электрода, разработанного для атомноэмиссионного анализа вещества в твердом виде
2.4. Описание разработанной методики обработки спектров
2.5. Исследование влияния состава и скорости потока плазмообразующего газа на плазму разряда
2.5.1. Исследование состава плазмообразующего газа на плазму разряда
2.5.2. Исследования влияния скорости потока плазмообразующего газа на спектральные характеристики разряда
2.6. Исследование влияния высокочастотной.и низкочастотной составляющей
на плазму разряда
2.6.1. Оценка стабильности излучения при применении ВЧ и НЧ составляющих тока
2.6.2. Оценка эрозии электрода и исследование влияния НЧ и ВЧ составляющих тока на эрозию электрода
2.7. Методика расчета температуры и электронной концентрации
2.8. Спектральные характеристики разряда килогерцового диапазона частот
2.9. Выводы
Глава 3. Анализ фуллереновых производных при подаче анализируемого вещества в растворе
3.1. Фуллереновые производные их свойства, способы получения,
выделение и применение
3.1.1. Структура фуллереновых производных
3.1.2. Генерация фуллеренов и фуллереновых производных
3.1.3. Выделение и применение фуллереновых производных
3.1.4. Методы исследования фуллеренов и фуллереновых производных
3.2. Устройства для подачи жидких проб в разрядный промежуток
3.3. Спектральные характеристики разряда при введении жидких проб (температура, электронная концентрация, стабильность излучения)
3.4. Качественный и количественный анализ фуллереновых производных ,.
3.4.1. Исследование влияния растворителей на атомно-эмиссионный
анализ фуллеренов синтезированных с различными элементами
3.4.2. Качественный анализ фуллереновых производных
с различными химическими элементами
3.4.3. Количественный анализ фуллереновых производных с
различными химическими элементами
3.6. Выводы
Глава 4. Анализ фуллереновых производных при подаче анализируемого
вещества в порошках
4.1. Устройство для подачи порошковых проб в разрядный промежуток
4.1.1. Конструкция устройства для подачи порошковых проб
4.1.2. Сравнительные характеристики работы стандартного устройства и разработанного нами устройства для вдувания порошковых проб в разрядный промежуток

4.2. Спектральные характеристики разряда при введении порошковых проб (температура, электронная концентрация, стабильность излучения)
4.3. Качественный и количественный анализ фуллереновых производных, синтезированных с различными химическими элементами
4.3.1. Предварительная подготовка фуллереновых производных для атомно-эмиссионного спектрального анализа
4.3.2. Качественный анализ фуллереновых производных, синтезированных с различными химическими элементами
4.3.3. Количественный анализ фуллереновых производных, синтезированных с различными химическими элементами
4.4. Результаты анализа фуллеренсодержащей смеси, полученной при введении различных химических элементов, различными методами
элементного анализа
4.4.1. Результаты масс-спектральных исследований
4.4.2. Результаты рентгенофлуоресцентных исследований
4.4.3. Результаты ЯМР исследований
4.5. Выводы
Основные результаты
Литература

Все силы, действующие на тела в электромагнитном поле, сводятся к силам, приложенным к электрическим зарядам, входящим в состав этих тел. Это в полной мере относится к столбу электрической дуги, представляющей собой смесь электронов, ионов, возбужденных ионов и нейтральных атомов. Однако следует указать, что с точки зрения физики, движение столба разряда в магнитном поле будет отличаться от движения металлического проводника с током. В последнем случае сила Лоренца/, сообщающая электронам приращение движения, передается всему проводнику в целом при столкновении электронов со связанными в кристаллическую решетку атомами и ионами, что вызывает перемещение проводника. В случае электрической дуги этот процесс является непрерывным процессом возникновения и гибели заряженных частиц и других компонентов плазмы, и появление силы/ ведет к изменению направления этого процесса, определяемого направлением движения частиц, ответственных за ионизацию. Этими частицами в дуге служат электроны.
Таким образом, при наложении поперечного магнитного поля изменяется упорядоченное движение электронов, т.е. направление ионизации. Какая-то часть нейтральных атомов также смещается в направлении перемещения дуги. Эти атомы, смещающиеся поперек дуги в результате упругих соударений с электронами и ионами - рекомбинированные ионы, сохранившие свою скорость. Однако данные нейтральные атомы существенного влияния на механизм перемещения дуги не оказывают.
На рис. 2.5. показана схема полей и сил, действующих на дугу в магнитном поле.
Силу, действующую на электроны, находящиеся в магнитном поле можно записать в виде:
7 -е{Е+у